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Hitachi

日立高新技术在中国

电源模块动态特性测量设备

  • 测量电源模块(IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)等)的动态特性
  • 仅使用1台便可进行切换时间、VCE(SUS)、负载短路测量
  • 内置低电感转换器
  • 亦可在高温/低温环境下测试动态特性(温度设定范围:-40~150°C)

主要的设备规格

电压泄漏系统 最大2000V (定制:4000V)
電流系 最大1000A (定制:2000A)
温度 ~150°C
要素数量 ~6要素全桥式+制动要素
测量夹具 各类均适用

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