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Hitachi

日立ハイテクフィールディング

日立電子顕微鏡用サンプルクリーナーZONEII for SEM

大学・民間の最先端の研究部門から、製造現場における品質管理に至るまで、幅広い分野で欠かせない存在として活躍する電子顕微鏡。私たちは、装置を最大限にご活用いただくために、ハード・ソフト・設置環境などあらゆる側面から、総合的にサポートいたします。

[主なサービス対象製品]

透過電子顕微鏡 (TEM)、走査透過電子顕微鏡 (STEM)、走査電子顕微鏡 (SEM)、集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)、X線分析装置、ウルトラミクロトーム、イオンミリング装置など。

消耗品

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