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Hitachi

日立ハイテクファインシステムズ

ハードディスクドライブ関連の製造工程を総合的にサポート
1975年にハードディスク関連事業に参入して以来国内外のハードディスクドライブメーカ、ハードディスク・ヘッド製造メーカに製造・検査設備を納入し、高いシェアを獲得しています。
エレクトロニクス、メカトロニクス、オプティクス、ソフトウエアの総合技術力とたえまない研究開発との融合をつねにはかり、最先端技術による高精度な装置をお届けします。

メディア検査システム RQ9000/RQ7800シリーズ

メディア表面の欠陥検査に威力を発揮します。メディア検査工程において従来のグライド・サーティファイテストに加え、レーザ光を用い欠陥による散乱光および正反射光を受光し、メディア表裏同時検査を行ないます。 ディスクハンドリング装置(RAシリーズ)に組み込み可能な量産型自動検査装置です。

特長

  • 高い周波数のサーティファイテスト
  • 光反射測定、光散乱測定の採用
  • メディア表裏同時検査
  • RQ/RAシリーズへ組み込み全自動検査が可能

ディスク表面検査装置 NS1500シリーズ

ハードディスク表面の解析に威力を発揮します。高倍率な散乱光結像方式や種々の正反射検出方式により高感度で高い欠陥弁別機能を有しています。更に顕微鏡やマーキングなど解析システムを備えた開発・評価用装置です。

特長

  • 微細な欠陥を高感度、高分解能で検出
  • 多様な光学測定方式による測定
  • 種々の解析機能を搭載

ディスク表面検査装置 NS7000シリーズ

ハードディスク表面の検査に威力を発揮します。高倍率な散乱光結像方式を採用することによりハードディスク表面の欠陥を高感度、高分解能に検出し、更に高スループットで良否を仕分ける量産型装置です。

特長

  • 微細な欠陥を高感度、高分解能で検出
  • 多様な光学測定方式による測定
  • 業界最高クラスのスループット

ヘッド素子形状検査装置 BM3100シリーズ

磁気記録ヘッドの書き込み磁界幅の測定に威力を発揮します。MFM(磁気力顕微鏡)方式で高分解能に磁界幅を測定し、高速搬送位置決め及び高速測定を非破壊(非接触)で行うことが出来る量産対応の高速・全自動検査装置です。

特長

  • ローバー工程で、Write素子の磁界幅を測定
  • MFM方式による高分解能磁界幅測定
  • 量産対応の高スループットを実現