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日立ハイテクサイエンス

2016年4月18日

来る7月11日(月)~13日(水)の3日間、東京理科大学神楽坂キャンパスにおいて日本分析化学会X線分析研究懇談会主催による第9回X線分析講習会「蛍光X線分析の実際」が開催されます。本講習会は、蛍光X線分析に関する総合的講習会で、2004年に開始されてから今回で9回目を数えます。
日立ハイテクサイエンスも初回より講師として参加しており、今回も講義と実習を担当いたします。蛍光X線分析法にご興味のある方、より深く蛍光X線分析装置を使いこなしたい方は是非ご参加ください。

開催概要

講習会

第20回X線分析講習会
『蛍光X線分析の実際』(第9回)

日時

2016年7月11日(月)~13日(水)
9:00-17:30

会場案内

東京理科大学1号館17階:記念講堂、大会議室
(東京都新宿区神楽坂1-3)
交通:JR飯田橋下車徒歩4分

参加費

  • 内容により異なりますので、日本分析化学会X線分析研究懇談会のWebサイトをご覧ください。

定員

講義100名/実習80名(先着順受付)

主催

日本分析化学会X線分析研究懇談会

内容問い合わせ先

東京理科大学 理学部 応用化学科
中井 泉、阿部 善也
TEL: 03-3260-4271

講習会概要

講習会概要
第1日講義 蛍光X線分析入門、測定装置の使い方、スペクトルの読み方、定量について講義します。
ブラックボックスとなりがちなFP法や良いデータを測定するためのコツなどが学べます。
第2日講義 試料調製のノウハウや各種試料への応用事例について講義します。
<応用事例>
X線分析顕微鏡、ハンドヘルドXRF、薄膜・メッキの膜厚測定、全反射蛍光X線分析、SEM-EDX、PM2.5、食品の蛍光X線分析、標準物質
第3日講義 実機を使用した実習を行います。
<前半> FP法を理解するための実習(関数電卓が必要です)
<後半> 応用実習
エネルギー分散型蛍光X線分析、波長分散型蛍光X線分析、X線分析顕微鏡、薄膜・メッキの膜厚測定、ハンドヘルドXRF、全反射蛍光X線分析、単色励起源を用いた蛍光X線分析、3次元偏光光学系を用いた蛍光X線分析、マイクロビーム蛍光X線分析

お申込み

  • 詳細及びお申込みは日本分析化学会X線分析研究懇談会のWebサイトをご覧ください。