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日立ハイテクサイエンス

日本分析化学会 第57回機器分析講習会のご案内

第4コース:「環境規制に関する分析手法 ~RoHS分析を中心に~」

2016年11月25日

環境分析では環境規制物質の有無を特定し、その有害物質の含有量を明らかにすることが重要です。近年はグローバル化する企業活動におけるRoHS指令などへの対応が求められており、迅速なスクリーニング分析と閾値を超えた場合の精密分析という段階的な分析手法も定着しつつあります。その中で欧州RoHS指令の新たな制限物質となるフタル酸エステル類の分析手法については、本年末前後に国際規格になる見通しです。今回このコースでは特に新たなフタル酸エステル類の詳細分析とスクリーニング分析について焦点をあてた内容としました。これらの分野の第一線の先生方の講義を受講していただくとともに,受講生が実際に数種の分析機器(ソックスレー溶媒抽出、マイクロ波分解、GC-MS、IAMS、 ICP発光分光分析、蛍光X線分析、分光分析)を体得できるよう企画しました。

開催概要

会期

2017年1月26日(木)~1月27日(金)

開催時間

1月26日(木)10:00~19:00
1月27日(金)9:30~16:30

会場

株式会社日立ハイテクサイエンス
サイエンスソリューションラボ東京
東京都中央区新富2-15-5 RBM築地ビル
TEL:03-6280-0068

主催

日本分析化学会関東支部

共催

日本化学会

後援

日本分析機器工業会

定員

40名
講義のみも可(定員になり次第締め切ります)

参加費

テキスト代、昼食代、消費税を含む
会員(共催学会会員を含む):35,000円
会員外:40,000円
講義のみ
会員:20,000円
会員外:25,000円
  • * 参加費の払い戻しは致しませんので、あらかじめご了承ください。

問い合わせ先

講習会全般について
〒141-0031 東京都品川区西五反田1-26-2
五反田サンハイツ304号
公益社団法人 日本分析化学会
関東支部機器分析講習会係
TEL:03-3490-3351
FAX:03-3490-357
講習会内容について
株式会社日立ハイテクサイエンス 並木
TEL:03-6280-0068

お申し込み

プログラム

1月26日(木)
時間 内容
10:00~17:15 講義

(1)製品含有化学物質管理に関する国際動向―IEC 62321を中心として―

株式会社日立ハイテクノロジーズ 竹中 みゆき

(2)ELV/RoHS指令におけるスクーリング方法の実際

矢崎総業株式会社 中込 政樹

(3)臭素系難燃剤(PBB・PBDE)およびフタル酸エステル類の分析手法と標準物質

産業技術総合研究所 松山 重論

(4)フタル酸エステル類などのスクリーニング手法(Py/TD-GC-MS、IAMS)による製品含有化学物質管理

株式会社東芝 佐藤 友香

(5)六価クロムを中心とした環境規制物質の分析事例

神奈川県産業技術センター 坂尾 昇冶

(6)RoHS分析における試験所の役割とデータの信頼性について

日本適合性認定協会 松本 年雄
17:30~19:00 技術交流会
1月27日(金)
時間 内容
9:30~16:30 実習

(1)(1) フタル酸エステル類の精密分析およびスクリーニング分析

フタル酸エステル類の精密分析における溶媒抽出のノウハウ(ソックスレー抽出を中心に)、GC-MSの測定手法。また、固体試料を直接分析するPy/TD-GC-MS、IA-MSのスクリーニング手法を実習する。

(2)RoHS対象試料のCd,Pb,Cr,Hgにおける種々の前処理と精密分析

固体試料を酸分解またはマイクロ波分解し、試料に含まれるCd,Pb,Cr,Hgの規制元素をICP発光分光分析する。六価クロムについてはクロムメッキ試料から六価クロムを溶出し、分光光度計を用いジフェニルカルバジド法で六価クロムを分析する。

(3)蛍光X線分析を用いたスクリーニング方法

IEC62321に準拠した蛍光X線分析法によるスクリーニング分析について実習し規制物質の含有の有無を把握する。基礎的なデータの管理からマッピング分析、鉛フリーはんだや無電解ニッケルなどめっき皮膜中の規制物質測定などについての応用手法を行う。