ナノテクノロジー
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ナノテクノロジーに関する分析事例を掲載しています。
ナノテクノロジー アプリケーションブリーフ
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| 走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM） | ||
|---|---|---|
| SPI No.69 | 垂直磁気異方性を有する高周波軟磁性膜の高分解能MFM観察 | |
| SPI No.67 | 位相測定によるポリスチレン/ポリブタジエンブレンド材の モルフォロジー観察 |
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| SPI No.66 | AFMスクラッチによる氷の融解 | |
| SPI No.65 | 原子間力顕微鏡による氷の観察 | |
| SPI No.64 | FIB加工面の低加速Arイオンビーム仕上げによる 低ダメージ効果のSPMによる検証 |
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| SPI No.63 | SPMによるハイアスペクト形状測定 -マイクロレンズの高精度断面プロファイル計測- |
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| SPI No.61 | 水平磁場印加オプションによるMRAM評価への応用 | |
| SPI No.60 | 鉛フリーめっき銅リードフレーム上に成長したすずウィスカ／ 基板の界面構造観察 |
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| SPI No.59 | 燃料電池への応用 | |
| SPI No.58 | ナノスケール磁性体の磁区構造の神秘な世界 | |
| SPI No.57 | 単一磁壁の質量決定と低電流誘起共鳴駆動 | |
| SPI No.56 | ナノ磁石中の束縛されていない単一磁壁の高分解能MFM観察 | |
| SPI No.55 | 六角格子ネットワークの高分解能MFM観察 | |
| SPI No.54 | 温度制御型SPMを用いたポリ乳酸の結晶成長観察 | |
| SPI No.53 | 2軸延伸PETフィルムの表面移転温度測定 | |
| SPI No.52 | 押出し形成PETシートの表面転移温度測定 | |
| SPI No.47 | 走査型プローブ顕微鏡によるSAMの分子像観察 | |
| SPI No.46 | 走査型プローブ顕微鏡によるカラーネガフィルム薄膜層の観察 | |
| SPI No.45 | カラーネガフィルムバックコートのLM-FFM観察 | |
| SPI No.44 | ポリプロピレンブロックコポリマーのガラス転移現象その場観察 | |
| SPI No.43 | 水中における毛髪の表面形状観察 | |
| SPI No.42 | 走査型プローブ顕微鏡によるポリプロピレンの結晶ラメラ観察 | |
| SPI No.41 | フイルム状高分子材料の真空下における構造変化の観察 | |
| SPI No.40 | 銀フィラー入りポリイミドフィルムの温度依存性の観察 | |
| SPI No.39 | スチレン･ブタジエン･スチレンブロック共重合体の ミクロ相分離構造の観察 |
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| SPI No.38 | フリクショナルカーブによる定量的摩擦特性評価 Ⅱ | |
| SPI No.35 | 走査型プローブ顕微鏡によるポリプロピレンブロックコポリマーの モルフォロジー観察 |
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| SPI No.34 | ポリマーブレンド試料の表面物性総合解析 | |
| SPI No.33 | SPMによるアドヒージョン測定（吸着力分布測定） | |
| SPI No.30 | 外部磁場印加によるパーマロイ薄膜の真空中磁気力顕微鏡（MFM）測定 | |
| SPI No.29 | 位相検出法による磁気力顕微鏡（MFM）測定 | |
| SPI No.28 | Co細線における磁壁のピン止め状態のMFM観察 | |
| SPI No.27 | 連結したCo円盤に生じる磁気渦のMFM観察 | |
| SPI No.26 | Coドット及びアンチドット格子の残留磁化状態のMFM観察 | |
| SPI No.25 | SPMによる液中AFM測定 | |
| SPI No.24 | 隕石中の磁性物質のMFM観察 | |
| SPI No.23 | MFMによるパーマロイ薄膜の磁区観察 | |
| SPI No.21 | Moパーマロイ微粒子格子のMFM観察 | |
| SPI No.20 | MFM（Magnetic Force Microscope） ～ 磁気力顕微鏡の紹介 | |
| SPI No.19 | ポリスチレンとゴムの成型品表面のLM-FFM観察 | |
| SPI No.18 | 顔料と溶剤の混合した塗膜のLM-FFM観察 | |
| SPI No.17 | ゴムとポリプロピレンの混合物のLM-FFM観察 | |
| SPI No.16 | プラスチック（PBT・ABSブレンド）表面のLM-FFM観察 | |
| SPI No.15 | フッ素樹脂塗膜のLM-FFM観察 | |
| SPI No.14 | FFM（摩擦力顕微鏡）とLM-FFM（横振動摩擦力顕微鏡）について | |
| SPI No.13 | 金属酸化膜のKFM観察 | |
| SPI No.12 | 塗膜付きポリスチレン・フィルムの温度制御VE-AFM測定 | |
| SPI No.11 | ポリスチレン・シート上油膜のVE-AFM観察 | |
| SPI No.10 | LB膜のVE-AFM観察 | |
| SPI No.09 | SPMによる位相測定 | |
| SPI No.06 | 生きたガン細胞の直接観察 | |
| SPI No.05 | ラット繊毛切片のDFM観察 | |
| SPI No.04 | コラーゲン細繊維のDFM観察 | |
| SPI No.03 | 走査型プローブ顕微鏡によるヒト赤血球のDFM観察 | |
| SPI No.02 | 走査型プローブ顕微鏡によるプラスミドDNAの観察 | |
| SPI No.01 | SPM概要 | |
| NPX No.20 | 超精密加工における加工面評価手法について（Nanopics） | |
| NPX No.16 | オプションソフトを使用した薄膜評価（Nanopics） | |
| NPX No.12 | 金属仕上げ加工条件の違いによる表面形状の差異 （ボールベアリングの溝）（Nanopics） |
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| NPX No.11 | 薄膜硬度計の圧痕（Nanopics） | |
| NPX No.09 | 研削・研磨面形状評価（Nanopics） | |
| NPX No.03 | Nanopics(AFM）を用いた工程評価（Nanopics） | |
| 走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM） | ||
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| SMI No.12 | SIM像の特徴 | |
| SMI No.11 | FIBによる断面加工・観察技術 | |
| SMI No.10 | ナノピンセットシステムによるTEM観察用試料の In-situ試料 ハンドリング |
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| SMI No.08 | 厚み管理ソフトの紹介 | |
| SMI No.06 | 斜め加工によるTEM試料作製 | |
| SMI No.05 | トリプルビーム装置によるFIBダメージ層除去 | |
| SMI No.04 | HRTEM観察用新型メッシュ“ナノメッシュ”の紹介 | |
| SMI No.02 | Cut&See Proの紹介 | |
| FIB No.07 | 精密金型作製への応用 | |
| FIB No.02 | FIBによる微細加工 | |
| FIB No.01 | 3Dナノ構造物の作製 | |
