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Hitachi

日立仪器(上海)有限公司

2014年8月28日

株式会社日立高新技术(总裁:久田真佐男/以下简称日立高新技术)的生产和销售分析测试仪器的全资子公司,株式会社日立高新技术科学(社长:池田俊幸/以下简称日立高新技术科学)开发了扫描探针显微镜(SPM)的控制探针台「AFM5000II」和连续型高分辨率ICP发射光谱仪「PS3500DDII」,并开始发售。此外,这两款机型将出展2014年9月3日(周三)~5日(周五)在日本千叶县千叶市幕张国际展览中心举行的「JASIS 2014」(分析展/科学仪器展)。

扫描探针显微镜的控制探针台「AFM5000II」

实现进化的参数自动调整功能和用新GUI简便观察纳米领域功能

扫描探针显微镜(SPM : Scanning Probe Microscope)是用于检测样品和探针间的原子间力、硬度、粘弹性、摩擦、电气、磁电等各种各样的物理量,可以纳米级别对样品表面的形状观察和物性进行扫描的仪器,其利用领域也很广泛。日立高新技术科学的SPM控制探针台「AFM5000II」是把进化的测量参数自动调整功能RealTuneII作为标准配置,同时追加了易懂的GUI。因此,即使初次使用SPM或者是初次测量的样品也可取得再现性很高的数据。


AFM5000II

主要特点

1. 进化的参数自动调整功能RealTuneII

测量时所有参数全部都是自动调整,因此即使没有熟练的操作人员也可取得再现性很高的数据。增加测量时的力量、扫描周波数、增益控制,新增悬臂的动作周波数和振幅的综合性自动调整功能,配合接续机种、悬臂的种类、表面状态、探针/样品间的状态,提供最适合的测量条件。

2. 新GUI

以图标形式追求可视性、便捷性及易于理解性。通过选择显示信息,从初学者到熟练者,各种水平的用户都能上手操作。另外,通过参数自动调整功能RealTuneII的相结合,样品和悬臂放置后一键单击就可测量。

主要规格

主要规格
标准装载功能 RealTuneII(参数自动调整功能)、探针评价功能、导航功能(操作顺序说明)、一键自动测量
连接机型(测量单元) AFM5100N、AFM5200S、AFM5300E
主机外形尺寸、重量 220mm(W)×500mm(D)×385mm(H)、约15kg

连续型高分辨率ICP发射光谱仪「PS3500DDII」

实现世界最高级别的分辨率和精度/再现性

ICP发射光谱仪是测量从励起样品中释放的光,对含有元素进行高精度识别和定量的仪器,分为连续型和多道扫描型。一般连续型是比多道扫描型具有2~3倍高的分标率。(ICP : Inductively Coupled Plasma/高周波电感耦合等离子体)
日立高新技术科学的「PS3500DDII」系列采用了精密的分光光学元件以及光学体系中最适合、最先进的直接驱动的扫描技术,具有高处理能力,同时将波长分辨率(半峰宽)从以往机型的0.0045nm提高到世界最高水准的0.003nm(扫描分辨率在0.00065nm以下)。另外,反复再现性与以往机型相比提高了1/2,提高了测量结果的可靠性。


PS3500DDII

主要特点

1. 高分辨率

通过光学体系的改良,使波长分辨率(半峰宽)从以往机型的0.0045nm提高到世界最高水准的0.003nm。
另外,通过驱动分光器的高分辨率直接驱动的精密控制实现了0.00065nm以下的能谱扫描,附件的干涉线的区分更为明了。

2. 精度・再现性

通过样品导入系统的改良,增加了雾化样品的导入稳定性,反复再现性比以往机型提高了1/2。也提高了测量结果的可靠性。

3. 操作性・维护性

通过调整等离子管道和过滤器的配置,提高了操作性和维护性。另外,通过选购ActiveFlow系统可以减少一半的Ar(氩气)消耗、还有内标准专用分光器。

主要规格

主要规格
机种 PS3520DDII(标准机)、PS3520VDDII(真空)、PS3520UVDDII(真空紫外)
波长分辨率(半峰宽) 0.003nm(Hg313nm)
扫描分辨率 0.00065nm
波长驱动方式 直接驱动方式
主机外形尺寸、重量 1,325mm(W)×815mm(D)×1,455mm(H)、约310kg