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如线路板,在材料使用树脂等轻元素时,测量照射的一次性X射线会透过镀金层之后,很有可能会散乱。这个散乱线,会影响测量对象元素的背景提高。为了控制这种影响、通常会使用仪器装载的一次滤波器、吸收成为散乱原因的一次性X射线。
但是,在一次滤波器上没有被吸收的高能源一次性X射线产生的散乱线,进入检测器时有可能会发生逃逸波峰。根据Cu材料 上的Ni及Au镀金的样品,可确认对于Au的背景提高。
本资料为大家介绍,这一类相关实例和对策方法。

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