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日立仪器(上海)有限公司

现如今的连接器镀镍、钯、金三层的产品颇为常见,其中钯层和金层的厚度多为数十至数百纳米。那么如何对这些极薄的贵金属镀层进行无损化分析及质量管控呢?
由于极薄镀层所发出的荧光X射线强度较小,因此必须配备聚光型光学系统及高灵敏度半导体检测器的组合以提高薄镀层产品荧光的检测能力。本公司先前发布的机型FT9500及FT9500X系列,可应对诸如此类的测量需求。本次,拥有新型聚光型光学系和升级后Vortex®检测器的FT150系列面世了,它能帮助用户实现更加高性能的测量。
在本资料中,介绍了使用FT150对微小范围内铜基材上镀镍钯金超薄镀层的半导体接插件进行仪器测量性能评价。同时,使用FT150也对以往的FT9500X系列进行了能力比对。

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