跳至正文

Hitachi

日立仪器(上海)有限公司

智能手机或车载电脑等使用的片式元器件,由于产品的小型化和多功能化,更加追求高密度的安装,部件本身也变得越来越小。它们中电极部分使用Sn和Ni双层膜的情况较多,因此对其膜厚管理的追求也越高。FT150系列配备了新型聚光光学系以及升级后的Vortex®检测器,可实现对今后越来越小型化片式元器件的电极部膜厚的高精确度Ni/Sn的同时测量。此份资料中,介绍了使用FT150对陶瓷片式元器件冷凝器的Ni/Sn层进行膜厚测量,之后更进一步确认对样品断面研磨后的电极部膜厚案例。

下载 Adobe Reader
要浏览PDF文件,电脑中需装有Adobe Systems Incorporated 公司的Adobe® Reader®软件。

通过电话咨询

日立仪器(上海)有限公司
市场企划课
电话:021-50273533

产品活动信息

日立高新技术在中国