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日立仪器(上海)有限公司

本资料主要介绍使用日立EA1000VX计算树脂与合金基体中的RoHS限令对象元素的检测下限。
另外,检测下限与测量时间及共存元素的能谱干扰有关。
本技术资料仅为该案件的检测下限,不完全代表仪器性能。

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