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Hitachi

日立仪器(上海)有限公司

说明

介绍X射线荧光膜厚测量仪的工作原理。

应用

介绍X射线荧光膜厚测量仪的运用实例。

专栏

在专栏中总结X射线荧光膜厚测量技术。

纳米级电子产品及基板镀层厚度的高性能管理

X射线荧光镀层厚度测量是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出的2次X射线的强度来测量镀层厚度的方法。用非破坏/非接触的方法,也可在10秒到几分钟的短时间内容完成测量。