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Hitachi

日立仪器(上海)有限公司

高性能X射线荧光镀层厚度测试仪 FT150系列

高性能X射线荧光镀层厚度测量仪

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FT150利用多毛细管所产生的照射直径为30 µm的高强度X射线光束,最适于导线架、微小连接器、柔性电路板等微小零件及超薄镀层的高精度分析评价。

FT150系列X射线荧光镀层厚度测量仪使用了最新的毛细管聚光技术,在原有产品的基础上进行全方位优化,并大幅提高了检测灵命度,实现超高的处理能力。本系列中专门针对超大样品(600 mm*600 mm)开发设计了FT150L,拥有超大密闭样品室,在保证使用安全的同时,使检测更为便捷。

推荐客户类型

主要面对芯片代工行业,晶圆加工制造业,接插件生产行业,基板加工生产行业,各类高校及研究院等。

主要用途

  • 超薄镀层晶圆
  • 芯片载板
  • 导线框架及各类接插件
  • 超小型电子元器件
  • 纳米级芯片镀层工艺
  • 柔性线路板

印刷路板及排插件中的ENIG、 ENEPIG、晶圆镀Ti、镀Cu、镀Al、陶瓷电容电阻镀Ni、镀Sn、半导体镀贵金属镀层厚度测量Rh、Ru、Pt、W

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X射线荧光镀层厚度测试仪 FT110系列

高性能X射线荧光镀层厚度测量仪

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1.即放即测! 2.10秒钟完成50 nm的极薄金镀层测量! 3.可无标样测量! 4.通过样品整体图像更方便选择测量位置!

推荐客户类型

主要面对电镀五金行业,贵金属镀涂饰物行业,接插件生产行业,基板加工生产行业等。

主要用途

  • 印制线路板镀金属层
  • 电器接插部件
  • 各类电镀产品
  • 半导体零部件
  • 五金件
  • 汽车零部件

各种电解类镀层、化学类镀层厚度测量。

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关于X射线膜厚计

X射线荧光镀层厚度测量是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出的2次X射线的强度来测量镀层厚度的方法。用非破坏/非接触的方法,也可在10秒到几分钟的短时间内容完成测量。

注:X射线荧分析装置FT系列是日立高新技术科学的产品。