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Hitachi

日立仪器(上海)有限公司

自X射线荧光测量技术发展以来,一直停留在只能测量用肉眼或显微镜看得到的,相对比较大的异物中的元素分析阶段。
EA6000VX 却脱离以往的“陈规”,具备高灵敏度和高速扫描的功能。基于这样的功能,能够对被测样品进行全面高速的扫描成像并能够发现以往使用光学成像技术观察不到的微量异物是否存在。


(左图) 光学照片


(右图) 铁的元素扫描图像

可以捕捉到用光学照片也不能发现的异物。