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Hitachi

日立仪器(上海)有限公司

配备了可对应欧盟RoHS和ELV指令、中国版RoHS等相关的环境管制法规的X射线荧光分析仪器以及等离子体发射光谱仪。

对应WEEE/RoHS/中国版RoHS/ELV的产品 (X射线荧光分析仪器/XRF)

能量色散型X射线荧光元素分析仪是为可对应RoHS、中国版RoHS、ELV等的环境管制法规以及无铅化、无卤化分析,并能够对成份进行无破坏性迅速便捷检查的仪器。其应用领域广,加上无需液氮的卓越操作性、多种操作语言以及多种电压的对应、拥有能够实现快速测量的检测器等,尽量满足您对环境管制物质的质量管控。

SEA6000VX(高灵敏度能量色散型X射线荧光元素分析仪)

一台测量范围涵盖了RoHS/ELV分析及其他专业分析的能量色散型X射线荧光分析仪。配备有独自开发的无需液氮的高计数率检测器「Vortex」及全新设计的X射线发生系统,使得检测灵敏度较从前提升了10倍以上。因此,也缩短了0.5mm~1.2mm的微小区域的测量时间。通过提升微小区域的测量灵敏度以及配合了高速电动平台,实现了二维元素扫描成像的快速化。

SEA1200VX(高性能能量色散型X射线荧光元素分析仪)

一台可对应RoHS、ELV、中国版RoHS及其他专业分析的能量色散型X射线荧光元素分析仪。搭载了独自开发、具有高计数率的高灵敏度・高分辨率的X射线荧光检测器「Vortex」。因此,灵敏度的提高实现了一个飞跃。另外,与精度管理软件并用时,测量时间最大能缩短至1/30。

SEA1000A(能量色散型X射线荧光元素分析仪)

可对应 《电子信息产品污染控制管理办法》 WEEE & RoHS 及ELV指令 玩具中有害重金属的检测 无铅焊锡分析、无卤化分析

SEA1200VX(高性能能量色散型X射线荧光元素分析仪)

一台可对应RoHS、ELV、中国版RoHS及其他专业分析的能量色散型X射线荧光元素分析仪。搭载了独自开发、具有高计数率的高灵敏度・高分辨率的X射线荧光检测器「Vortex」。因此,灵敏度的提高实现了一个飞跃。另外,与精度管理软件并用时,测量时间最大能缩短至1/30。

SFT9500(有害物质测量与膜厚测量兼备的分析仪器)

X射线发生系统为X射线聚焦光学系统(聚焦导管)与X射线源相结合,并且可以照射出实际照射直径为0.1mmφ以下高强度的X射线束。为此,可以对以往X射线荧光镀层厚度测量仪由于照射强度不足而无法得到理想精度的导线架、插接头、柔性线路板等微小部件及薄膜进行测量。同时搭载高计数率、高分辨率的半导体检测器,在测量镀层厚度的同时,也能对RoHS、ELV、中国版RoHS等法规所管制的有害物质进行分析测量。

对应WEEE/RoHS/中国版RoHS/ELV的产品 (等离子体发射光谱仪/ICP)

等离子体发射光谱仪(ICP)在RoHS、ELV、中国版RoHS等环境法规中、是经过官方认证的精密分析仪器。能够对元素以ppb(10亿分之一)的水平进行定量分析、在对应环境管制法规中经筛选,超过基准值的样品验证分析和在X荧光分析中使用的标准物质。