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Hitachi

株式会社 日立ハイテクノロジーズ

2014年8月28日

株式会社日立ハイテクノロジーズ(執行役社長:久田 眞佐男/以下、日立ハイテク)の100%子会社で、分析計測装置を製造販売している株式会社日立ハイテクサイエンス(取締役社長:池田 俊幸/以下、日立ハイテクサイエンス)は、このたび高速液体クロマトグラフ(HPLC)用質量検出器「Chromaster5610 MS Detector」、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の制御ステーション「AFM5000II」、シーケンシャル型高分解能ICP発光分光分析装置「PS3500DDII」の3機種を開発し、販売を開始いたします。また3機種を2014年9月3日(水)~5日(金)、千葉県千葉市の幕張メッセ国際展示場で開催されるJASIS 2014(分析展2014/科学機器展2014)にて実機展示します。
(JASIS 2014では本3機種以外にも新製品を紹介予定です)

HPLC用質量検出器「Chromaster5610 MS Detector」

HPLC用質量検出器「Chromaster5610 MS Detector」
Chromaster5610 MS Detector

新開発のESIイオン源、四重極型を採用したコンパクトな質量検出器です。100V電源、排気ダクトレス仕様*、省スペース設計で設置環境の自由度を高めました。専用のソフトにより容易な操作性を実現。シンプルなメンテナンス性も加わって従来のHPLC用検出器と同じ感覚で気軽に利用いただけます。製薬、化学、研究機関等に提案してまいります。

走査型プローブ顕微鏡の制御ステーション「AFM5000II」

走査型プローブ顕微鏡の制御ステーション「AFM5000II」
AFM5000II

進化した測定パラメーター自動調整機能RealTuneIIと分かり易さを追求した新GUI(Graphical User Interface)により、SPM操作経験の少ない方でも、また初めて測定する試料でも再現性の高いデータが取得できます。従来機に比べ体積比1/2のコンパクト設計で設置自由度も高まりました。研究機関や製造業の品質管理部門などに拡販してまいります。

高分解能ICP発光分光分析装置「PS3500DDII」

高分解能ICP発光分光分析装置「PS3500DDII」
PS3500DDII

光学系と試料導入系などの改良により、当社従来機同様の高いスループットを有しながら、さらなる分解能と精度・再現性を向上させました。配管等レイアウトの整理により保守性、信頼性も改善しています。Arガス消費量半減のActiveFlowシステム、内標準分光器にも対応します。金属、セラミックスなどの高分解能測定用途を中心に提案してまいります。

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