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Hitachi

株式会社 日立ハイテクノロジーズ

今回は、電子顕微鏡の新技術と応用事例のご紹介を中心として開催させていただきます。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。

開催日

2015年2月17日(火)

開催時間

13:00~17:25(受付開始 12:30~)

開催地

千葉県

会場

幕張セミナーハウス 大研修室1

所在地・交通案内

千葉県習志野市茜浜 2-3-2

参加費

無料

定員

80名
* 原則として、先着順とさせていただきます。

お申し込み

受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。

問い合わせ先

株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学システム二部
担当/小平(おだいら)、鵜澤
TEL:03-3504-7378

スケジュール

スケジュール
時間 テーマ/内容
12:30~ 受付開始
13:00~13:30

日立コールドFE銃を搭載した高分解能FE-SEMのご紹介

株式会社日立ハイテクノロジーズ
13:30~13:55

イオンミリング装置の最新アプリケーション紹介 ~温調冷却/雰囲気遮断の技術紹介~

株式会社日立ハイテクノロジーズ
13:55~14:40

日立透過電子顕微鏡 最新アプリケーションのご紹介

株式会社日立ハイテクノロジーズ
14:40~15:00 休憩
15:00~15:30

日立ハイテクサイエンス最新FIB装置のご紹介

株式会社日立ハイテクノロジーズ
15:30~16:00

日立新型ショットキーエミッション分析FE-SEMのご紹介

株式会社日立ハイテクノロジーズ
16:00~16:50

EBSP法と透過EBSP法による結晶解析のご紹介

株式会社TSLソリューションズ
16:50~17:20

走査型プローブ顕微鏡および非接触表面・層断面形状測定システムのご紹介

株式会社日立ハイテクサイエンス
17:20~17:25 閉会のご挨拶
  • * 演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。
    あらかじめご了承ください。