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Hitachi

株式会社 日立ハイテクノロジーズ

今回は、メルパルク大阪にて、電子顕微鏡のバイオ向け最新アプリケーション技術を中心に開催いたします。 また、講演会の最後には自由討論として、ご参加者、講演者、メーカー間で個別にご意見交換していただけるようクロストーキング(懇親会)の場を設けております。
奮ってご参加賜りますようご案内申し上げます。

ほぼ同一のプログラムにて、東京でも開催いたします。

開催日

2015年2月20日(金)

開催時間

13:30~17:00(受付開始 13:00~)
* 17:00~18:30はクロストーキング(懇親会)を予定しています。

開催地

大阪府

会場

メルパルク大阪 3F「ボヌール」

所在地・交通案内

大阪府大阪市淀川区宮原4-2-1

参加費

無料

定員

80名
* 原則として、先着順とさせていただきます。

お申し込み

受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。

問い合わせ先

株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学・医用システム事業統括本部
広告宣伝グループ 担当/野村
TEL:050-3139-4299

スケジュール

スケジュール
時間 テーマ/内容
13:00~ 受付開始
13:30~13:35 開会のご挨拶
13:05~13:20

日立透過電子顕微鏡 HT7700の新機能および最新アプリデータのご紹介

蛍光板観察用のスクリーンカメラと高精細デジタルカメラをインテグレーションした透過電子顕微鏡 HT7700は、視野探しから、像観察や撮影など、全ての作業を明るい部屋で行うことが可能です。今回は更なる操作性向上のために搭載された新機能や、イオン液体および液中観察ツールを用いた観察例について紹介いたします。

株式会社日立ハイテクノロジーズ アプリケーション開発部
和山 真里奈
13:50~14:40

連続切片SEM法とゴルジ装置の3D構造解析への応用

連続切片SEM法は、超薄連続切片を硬い基板に載せ、その切片像をSEM で取得する技法である。この手法は、TEM連続切片法より容易であり、高価で特殊な装置を用いずに、高精度な3D再構築像の作製が可能である。本講演では、連続切片SEM法について解説すると共に、この手法をゴルジ装置の3D構造解析に応用した例をご紹介する。

新潟大学医歯学総合研究科 顕微解剖学分野
講師 甲賀 大輔
14:40~14:55

ショットキー走査電子顕微鏡 SU5000のご紹介

SU5000は強力な光学系と検出系を有した高性能な走査電子顕微鏡(SEM)でありながら、新開発ユーザーインターフェースコンセプト「EM Wizard」の搭載により、操作に不慣れなユーザーであっても安心してご使用いただくことができます。技術的背景とアプリケーション例をご紹介いたします。

株式会社日立ハイテクノロジーズ 電子顕微鏡第一設計部
重藤 訓志
14:55~15:15 休憩
15:15~16:05

直交配置型FIB-SEM Hitachi MI4000Lを用いた免疫染色標本の3D Correlative Microscopy

近年、電子顕微鏡の新しい応用法として、光学顕微鏡や蛍光顕微鏡と全く同一部位を観察するCorrelative Microscopyが様々な手法で行われている。本講演では、直交配置型FIB-SEMと共焦点レーザー顕微鏡を組み合わせることで、共焦点レーザー顕微鏡画像だけでは明確に解析できなかった対象物をはるかに高い分解能で検証することのできる形態解析の一例をご紹介する。

金沢医科大学医学部 解剖学第二講座
講師 薗村 貴弘
16:05~16:20

リアルタイム3DアナリティカルFIB-SEMのご紹介

高機能性材料の三次元構造解析ニーズに応えるため、高い加工安定性を持つ集束イオンビームと高い像分解能を持つ走査電子顕微鏡を直角に配置したFIB-SEMを開発しました。本装置は、配置を最適化した多彩な検出系を備えており、FIB加工位置における垂直断面の観察やすべての分析が自動で連続的に行えます。今回は、本装置の特長と応用例をご紹介いたします。

株式会社日立ハイテクサイエンス 解析技術部 解析技術一課
満 欣
  • リアルタイム3DアナリティカルFIB-SEM MI4000L
16:20~16:35

日立卓上顕微鏡 Miniscope® シリーズ TM3030/TM3030Plus、大気圧SEMのご紹介

日立卓上顕微鏡Miniscope®シリーズは、誰にでも簡単に観察およびEDX分析できるSEMです。今回はより機能を拡張し、像質を向上させたTM3030と、高感度低真空二次電子検出器を搭載し、試料表面の微細形状の観察も可能としたTM3030Plus、さらにTM3030の鏡体部分はそのままに、大気圧下での試料観察を可能とした卓上型大気圧SEMについて紹介いたします。

株式会社日立ハイテクノロジーズ アプリケーション開発部
坂上 万里
16:35~16:50

SPM(走査型プローブ顕微鏡)の魅力をご紹介

走査型プローブ顕微鏡(SPM)は、真空中、大気中、液中と様々な環境下で、リアルな表面形状を高分解能で観察することが可能です。また、形状観察だけでなく、粘弾性や吸着など、各種物性のマッピングも同時に行うことができます。今回は、測定事例を交えながら、SPMの魅力についてご紹介いたします。

株式会社日立ハイテクサイエンス 分析応用技術部 東京応用技術課
辻川 葉奈
16:50~16:55 閉会のご挨拶
17:00~18:30 クロストーキング(懇親会)
  • * 演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。
    あらかじめご了承ください。