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Hitachi

株式会社 日立ハイテクノロジーズ

今回は、名古屋市工業試験場にて、走査電子顕微鏡の基礎を中心としたセミナーを開催いたします。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。

開催日

2015年6月19日(金)

開催時間

13:00~16:40(受付開始 12:30~)

開催地

愛知県

会場

名古屋市工業研究所 ホール

所在地・交通案内

名古屋市熱田区六番三丁目4番41号

参加費

無料

定員

100名
* 原則として、先着順とさせていただきます。

お申し込み

受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。

問い合わせ先

株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学・医用システム部
担当:三尾(みつお)/湯川(ゆかわ)
TEL:050-3139-4939

スケジュール

スケジュール
時間 テーマ/内容
12:30~ 受付開始
13:00~13:45

SEMの原理と観察テクニック ~SEMで何ができるのか~

株式会社日立ハイテクノロジーズ
13:45~14:15

EDXの原理と分析の基礎

株式会社堀場製作所
14:15~14:35

新型FE-SEM SU5000のご紹介

株式会社日立ハイテクノロジーズ
14:35~14:50 休憩
14:50~15:35

SEM試料前処理の基礎 ~SEM観察のために何が必要か~

株式会社日立ハイテクノロジーズ
15:35~16:05

EBSD ‐結晶方位解析について

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
16:05~16:35

走査型プローブ顕微鏡と走査型白色干渉顕微鏡のご紹介

株式会社日立ハイテクサイエンス
16:35~16:40 閉会のご挨拶
  • * 演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。
    あらかじめご了承ください。