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Hitachi

株式会社 日立ハイテクノロジーズ

本材料解析新技術セミナーでは、最先端製品とアプリケーションを中心とした新技術をご紹介します。
当日は、普段お困りの分析・評価方法についてのご相談にもお応えしたいと考えております。
また、講演会の最後には、ご参加者、講演者、メーカー間で個別にご意見交換していただけるようクロストーキング(懇親会)の場を設けております。
奮ってご参加賜りますようご案内申し上げます。

開催日

2015年11月6日(金)

開催時間

13:00~17:20(受付開始 12:30~)
* セミナー終了後はクロストーキング(懇親会)を予定しています

会場案内

愛知県名古屋市中区錦2-13-19
瀧定名古屋ビル 17階

参加費

無料

定員

80名
* 原則として、先着順とさせていただきます。

お申し込み

受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。

問い合わせ先

株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学システム二部  担当:坪井/三尾(みつお)
TEL:050-3139-4566

スケジュール

スケジュール
時間 内容
12:30~ 受付開始
13:00~13:05 開会の挨拶
13:05~13:50

<特別講演>
LED技術の発展と今後の展望

名城大学 理工学部 材料機能工学科
教授 上山 智
13:50~14:10

超高分解能FE-SEM SU9000を用いたアドバンスド ナノアナリシス
~EDX・EELS~

株式会社日立ハイテクノロジーズ
14:10~14:30

低真空FE-SEM SU5000による解析手法の拡張
~in-situ観察・3D計測~

株式会社日立ハイテクノロジーズ
14:30~15:00

表面の観察・計測・分析技術の連携
~走査型プローブ顕微鏡、イオンミリング、FE-SEM、走査型白色顕微鏡~

株式会社日立ハイテクサイエンス
15:00~15:20

大気圧観察が拓く新しい世界
~大気圧SEM Aerosurf1500~

株式会社日立ハイテクノロジーズ
15:20~15:40 休憩
15:40~16:10

先端材料の解析をサポートする新型日立FIB-SEMのご紹介
~NX2000、NX9000~

株式会社日立ハイテクサイエンス
16:10~16:30

高分解能/高感度STEM-EDXシステムのご紹介
~HD-2700~

株式会社日立ハイテクノロジーズ
16:30~17:15

<特別講演>
先端電子顕微鏡技術を用いた全固体Liイオン電池反応のex situ、in situ解析

非営利・一般財団法人ファインセラミックスセンター
主任研究員 山本 和生
17:15~17:20 閉会の挨拶
17:25~18:30 クロストーキング(懇親会)
  • * 演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。
    あらかじめご了承ください。