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Hitachi

株式会社 日立ハイテクノロジーズ

今回は、テクノプラザおかやにて、走査電子顕微鏡の基礎を中心としたセミナーを開催いたします。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。

開催日

2015年11月26日(木)

開催時間

10:00~16:40(受付開始 9:30~)

会場案内

長野県岡谷市本町1-1-1
テクノプラザおかや 1F 大研修室

参加費

無料

定員

100名
* 原則として、先着順とさせていただきます。

お申し込み

受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。

問い合わせ先

株式会社日立ハイテクノロジーズ
関西支店 科学・医用システム部
担当:小平(おだいら)/鵜澤
TEL:03-3504-7378

スケジュール

スケジュール
時間 内容
9:30~ 受付開始
10:00~10:10 開会の挨拶
10:10~11:00

SEM試料前処理の基礎 ~SEM観察のために何が必要か~

株式会社日立ハイテクノロジーズ
11:00~11:50

SEMの原理と観察テクニック ~SEMで何ができるのか~

株式会社日立ハイテクノロジーズ
11:50~13:00 昼食(こちらで用意いたします)
13:00~13:25

新型FE-SEM SU5000のご紹介
アプリケーションのご紹介

株式会社日立ハイテクノロジーズ
13:25~13:50

走査電子顕微鏡 SU3500 アプリケーションのご紹介

株式会社日立ハイテクノロジーズ
13:50~14:15

卓上顕微鏡Miniscope® TM3030Plus
低真空SEMアプリケーションのご紹介

株式会社日立ハイテクノロジーズ
14:15~14:40

新型大気圧SEM AeroSurf® ご紹介

株式会社日立ハイテクノロジーズ
14:40~15:00 休憩
15:00~15:30

EDXの原理と分析の基礎 ~よりよい条件で元素分析するために~

株式会社堀場製作所
15:30~16:00

EBSD ~結晶方位解析による材料評価~

オックスフォード・インスツルメンツ株式会社
16:00~16:30

走査型プローブ顕微鏡および非接触表面・層断面形状測定システムのご紹介

株式会社日立ハイテクサイエンス
16:30~16:40 閉会のご挨拶
  • * 演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。
    あらかじめご了承ください。