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Hitachi

株式会社 日立ハイテクノロジーズ

今回は、名古屋市工業試験場にて、走査電子顕微鏡の基礎を中心としたセミナーを開催いたします。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。

開催日

2016年6月22日(水)

開催時間

13:00~16:45(受付開始 12:30~)

会場案内

名古屋市熱田区六番三丁目4番41号
名古屋市工業研究所 ホール

参加費

無料

定員

100名
* 原則として、先着順とさせていただきます。

お申し込み

受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。

問い合わせ先

株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学・医用システム部
担当:三尾(みつお)/坪井(つぼい)
TEL:050-3139-4566

スケジュール

スケジュール
時間 テーマ/内容
12:30~ 受付開始
13:00~13:45

走査電子顕微鏡(SEM)の原理と観察テクニック ~SEMで何ができるのか~

13:45~14:15

EDXの原理と分析の基礎

14:15~14:45

新型走査電子顕微鏡FlexSEM1000のご紹介

14:45~15:00 休憩
15:00~15:45

走査電子顕微鏡(SEM)試料前処理の基礎 ~SEM観察のために何が必要か~

15:45~16:10

大気圧から真空まで観察できる新しい世界 ~AeroSurf® 1500のご紹介~

16:10~16:40

走査型プローブ顕微鏡と走査型白色干渉顕微鏡

16:40~16:45 閉会のご挨拶
  • * 演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。
    あらかじめご了承ください。