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Hitachi

株式会社 日立ハイテクノロジーズ

千葉商工会議所にて、走査電子顕微鏡の基礎を中心としたセミナーを開催いたします。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。

開催日

2016年2月23日(火)

開催時間

13:00~17:40(受付開始 12:30~)

会場案内

千葉県千葉市中央区中央2-5-1 千葉中央ツインビル2号館
千葉商工会議所 研修室A

参加費

無料

定員

50名
* 原則として、先着順とさせていただきます。

お申し込み

受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。

問い合わせ先

株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学システム二部
担当:小平(おだいら)/松原
TEL:03-3504-7378

スケジュール

スケジュール
時間 内容
12:30~ 受付開始
13:00~13:50 SEM試料前処理の基礎
~SEM観察のために何が必要か~
13:50~14:40 SEMの原理と観察テクニック
~SEMで何ができるのか~
14:40~15:05 新型FE-SEM SU5000のご紹介
15:05~15:25 休憩
15:25~16:10 走査電子顕微鏡を用いた分析手法の紹介
~EDX、WDX、EBSPの原理と解析事例~
16:10~16:35 高い操作性と汎用性で切り開く卓上SEM TM3030Plusの最新状況
16:35~17:00 大気圧から真空まで観察できる新しい世界
Aerosurf® 1500のご紹介
17:00~17:30 走査型プローブ顕微鏡および非接触表面・層断面形状測定システムのご紹介
17:30~ 閉会のご挨拶
  • * 演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。あらかじめご了承ください。