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Hitachi

株式会社 日立ハイテクノロジーズ

九州大学中央分析センター主催の「第100回分析基礎セミナー」におきまして、「実用機器分析[1] 走査電子顕微鏡」を弊社でも協力させていただくこととなりました。
学外の方(民間企業の方や他の大学・研究機関の方)も申込可能です。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。

開催日

2016年4月27日(水)

開催時間

13:00~17:00

会場案内

福岡県福岡市西区元岡 744番地
九州大学伊都キャンパス・工学部大講義室
(総合学習プラザ2F)

参加費

無料

定員

申込人数の制限はありません。

主催

九州大学中央分析センター

共催

九州大学ナノテクノロジープラットフォーム

協力

株式会社日立ハイテクノロジーズ
アメテック株式会社エダックス事業部

お申し込み

受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。

お問い合わせ先

九州大学中央分析センター伊都分室
担当/渡辺様
TEL:092-802-2857

スケジュール

スケジュール
時間 テーマ/内容
13:00~14:00

原理から学ぶ走査電子顕微鏡

最近の装置は原理を知らなくても簡単にSEM 画像が得られますが、ここでは敢えてブラックボックス化することなく、SEM の原理、基礎から装置構成など技術的な内容を解説します。
14:00~14:50

SEM 観察のためのサンプリングと前処理技術

試料に応じた前処理の方法と、金属コーティングの種類、イオン液体の利用、イオンミリング法等多様な前処理技術について解説します。
15:00~15:40

SEM の活用(1)組成情報を得る

SEM は観察するだけでなく、特性X線を利用した組成情報を得ることもできます。
ここではEDX の基礎と応用技術について解説します。
15:40~16:10

SEM の活用(2)目的に応じたSEM の選択

中央分析センターに設置されている日立ハイテクノロジーズ製のSEM(SU8000、SU6600、SU3500 及び新設大気圧SEM)の性能・特徴について解説します。
16:10~17:00

SEM の活用(3)事例で学ぶ応用技術と観察テクニック

過去にユーザーから相談があった観察事例を中心に、チャージングやコンタミネーション回避に対するアプローチをQ&A形式で解説します。