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Hitachi

株式会社 日立ハイテクノロジーズ

アイメッセ山梨にて、ものづくり支援において製品開発・品質管理をサポートする顕微鏡の基礎を中心にセミナーを開催いたします。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。

開催概要

開催日

2017年8月23日(水)

開催時間

13:00~17:00(受付開始 12:30~)

会場案内

〒400-0055 山梨県甲府市大津町2192-8
アイメッセ山梨 大会議室

参加費

無料

定員

80名
* 原則として、先着順とさせていただきます。

お申し込み

受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。

問い合わせ先

株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学システム二部
担当:小平(おだいら)/松原
TEL:03-3504-7378

スケジュール

スケジュール
時間 テーマ/内容
12:30~ 受付開始
13:00~13:50

走査電子顕微鏡(SEM)の原理と観察テクニック ~SEMで何ができるのか~

13:50~14:15

新形卓上顕微鏡Miniscope®のご紹介

14:15~14:45

走査型プローブ顕微鏡と走査型白色干渉顕微鏡のご紹介 ~電子顕微鏡分析を補うもの~

14:45~15:05 休憩
15:05~15:35

最新FE-SEMアプリケーションのご紹介 ~観察・分析のトレンド~

15:35~16:25

SEM試料前処理の基礎 ~SEM観察のために何が必要か~

16:25~16:55

EDXの原理と分析の基礎 ~最新検出器のご紹介~

ブルカー・エイエックスエス株式会社

16:55~ 閉会の挨拶
  • * 演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。あらかじめご了承ください。