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Hitachi

株式会社 日立ハイテクノロジーズ

名古屋会議室プライムセントラルタワー名古屋駅前にて、ものづくり支援において製品開発・品質管理をサポートする顕微鏡の基礎を中心にセミナーを開催いたします。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。

開催概要

開催日

2017年8月25日(金)

開催時間

13:00~17:00(受付開始 12:30~)

会場案内

愛知県名古屋市西区名駅二丁目27番8号
名古屋プライムセントラルタワー13階

参加費

無料

定員

100名
* 原則として、先着順とさせていただきます。

お申し込み

問い合わせ先

株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学システム2グル―プ
担当:三尾(みつお)/本間
TEL:050-3139-4566

スケジュール

スケジュール
時間 テーマ/内容
12:30~ 受付開始
13:00~13:50

走査電子顕微鏡(SEM)の原理と観察テクニック ~SEMで何ができるのか~

13:50~14:40

走査電子顕微鏡(SEM)試料前処理の基礎 ~SEM観察のために何が必要か~

14:40~15:00 休憩
15:00~15:30

EDXの原理と分析の基礎

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

15:30~16:00

新形卓上顕微鏡 Miniscope®のご紹介

16:00~16:30

走査型プローブ顕微鏡と走査型白色干渉顕微鏡
アプリケーションのご紹介

16:30~17:00

蛍光X線分析装置の原理と測定事例のご紹介

株式会社日立ハイテクサイエンス

17:00~ 閉会の挨拶
  • * 演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。あらかじめご了承ください。