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Hitachi

株式会社 日立ハイテクノロジーズ

平成29年度ナノセラミック関連技術講習会

「機器分析講座」-絶縁物のSEM画像を鮮明に撮るテクニックと応用技術-

福岡県工業技術センターにて、「セラミックス・樹脂・ゴム等の絶縁物」を走査電子顕微鏡(SEM)で観察されている技術者向けのセミナーが開催されます。
日立ハイテクでも講師を担当し、SEM観察中に起きる「チャージアップ・観察中に像がだんだん見えにくくなる・画像が動く」といった現象について、その原因と対策を多様な事例を中心にご説明いたします。
その他に試料の前処理方法のノウハウ、目的に合わせた2次電子像(SE)と反射電子像(組成像、凹凸像)の使い分けについても解説予定です。
過剰な導電コーティング処理に頼らず、試料の極表面を鮮明に観察するための知識が得られる機会です。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。

開催日

2017年9月12日(火)

開催時間

13:30~16:30

会場案内

福岡県筑紫野市上古賀3-2-1
福岡県工業技術センター 化学繊維研究所 3階研修室

主催

福岡県工業技術センター

協力

株式会社日立ハイテクノロジーズ

受講対象者

SEM観察経験がある方にお勧めです。

参加費

無料

定員

40名
* 1機関からの参加者が3名以上の場合、ご相談させていただくことがあります。

お申し込み

受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。

問い合わせ先

福岡県工業技術センター
化学課 担当:山下様、藤吉様
TEL:092-925-7722

内容

  • 試料の前処理方法
  • SEM観察における像障害の原因と対策
  • 目的に合わせた2次電子(SE)と反射電子(組成像、凹凸像)の使い分け
  • 株式会社日立ハイテクノロジーズの新製品紹介
  • * 演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。
    あらかじめご了承ください。