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Hitachi

株式会社 日立ハイテクノロジーズ

埼玉県産業技術総合センターにて、走査電子顕微鏡の基礎を中心としたセミナーを開催いたします。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。

開催概要

開催日

2017年9月21日(木)

開催時間

13:00~17:00(受付開始 12:30~)

会場案内

〒333-0844 埼玉県川口市上青木3-12-18(SKIPシティ内)
埼玉県産業技術総合センター 1F 多目的ホール

参加費

無料

定員

120名
* 原則として、先着順とさせていただきます。

お申し込み

受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。

問い合わせ先

株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学システム二部  担当:杉山 / 桑原(佳)
TEL:03-3504-5680

スケジュール

スケジュール
時間 テーマ/内容
12:30~ 受付開始
13:00~13:50

走査電子顕微鏡(SEM)の原理と観察テクニック ~SEMで何ができるのか~

13:50~14:10

ここまで進化した 最新型卓上顕微鏡のご紹介

14:10~14:40

電子顕微鏡分析を補うもの (走査型白色干渉顕微鏡と走査型プローブ顕微鏡のご紹介)

14:40~15:20

休憩
【卓上顕微鏡 Miniscope®実機見学】
【SAITEC所有 SU3500実機見学(希望者)】
※内容は一部変更となる場合がございます

15:20~16:10

SEM試料前処理の基礎 ~SEM観察のために何が必要か~

16:10~16:30

イオンミリング装置 ArBlade®5000のご紹介

16:30~17:00

EDXの原理と分析の基礎

株式会社堀場製作所
17:00 閉会のご挨拶
  • * 演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。あらかじめご了承ください。