ページの本文へ

Hitachi

株式会社 日立ハイテクノロジーズ

JASIS 2016 2016年9月7日(水)~9日(金)10:00AM~5:00PM 幕張メッセにて開催

JASIS概要

開催日

2016年9月7日(水)~9日(金)

会場案内

〒261-0023
千葉県千葉市美浜区中瀬2-1
幕張メッセ 国際展示場7ホール
(ブースNo. 7B-801)

入場料

無料(ただし事前登録が必要です)

主催者

一般社団法人 日本分析機器工業会 /
一般社団法人 日本科学機器協会

日立ハイテクブース ハイライト

分離分析

5610型質量検出器

分析の信頼性と分析効率向上のためのHPLC "Chromaster"シリーズを幅広くラインアップ!
5610質量検出器の実機デモと合わせてご紹介します。

主な出展製品

分光分析

分光光度計

定評ある光学系により低迷光、低偏光特性を両立し、平行光束での反射、拡散光もより正確に測定可能な固体分光測定のエキスパート。

主な出展製品

元素分析

発光分光分析装置

元素分析装置に加え、試料の前処理装置の実機を展示します。
環境・材料・化学・食品・医薬などの皆さまにお役に立つ最先端のアプリケーションもご紹介します。

主な出展製品

物性分析

熱分析・粘弾性装置

「熱分析TA7000シリーズ、フルラインアップを展示、最新Real View® TA測定事例を紹介。
熱伝導率測定装置、MOCONガスバリア試験装置も展示ご紹介します。

主な出展製品

表面分析・構造解析

表面分析・構造解析装置

新型コンパクトSEM「FlexSEM」、卓上顕微鏡「Miniscope®」、大気圧SEM「AeroSurf®」、新型AFM「AFM5500M」の実機展示や最新アプリケーションをご紹介します。

主な出展製品

滴定/水分/水銀/TOC測定

(左)【滴定】滴定液温度測定センサを用いた測定例/<br>(右)【水銀】排水の測定例

必見!自動滴定装置の新シリーズを初披露します。
デザインを一新し、さらに使いやすくなったニューモデルをぜひご体感ください。

主な出展製品

Live Demonstration @ Communication Lab

ブース内Communication Labステージにおいて、主に実機によるリアルタイム測定や観察を実演する「ライブデモンストレーション」。デモを見れば装置の特長や導入メリットも一目瞭然。ぜひご覧ください。

※一部は通常のプレゼンテーションになります。

デモンストレーションメニュー

デモンストレーションメニュー

実施スケジュール

>実施スケジュール

新技術説明会

最先端の分析技術や注目のトピックスなどをご紹介します。

会場

スケジュール

新技術説明会スケジュール
日時 会場 タイトル
9月7日(水) 10:30~10:55 A-4 ここがポイント!
HPLC/UHPLC分析におけるシステム最適化のワザ
10:30~10:55 A-10 RoHS2分析の決定版!
最新EDXRFとフタル酸エステル類のスクリーニング分析
11:50~12:15 A-1 FIB-SEM-Arトリプルビーム装置による
最新アプリケーションのご紹介
12:30~12:55 A-4 走査型白色干渉顕微鏡VS1000とコリレーションアプリのご紹介
13:10~13:35 A-4 ☆こんなに見える♪☆ 新型コンパクトFlexSEM1000のご紹介
15:30~16:20 A-10 ☆こんなにきれい♪☆
イオンミリング装置を用いたSEM試料前処理事例のご紹介
9月8日(木) 10:30~10:55 A-6 あなたの分析をアシスト!
みんなが知りたい蛍光指紋の基礎と測定・多変量解析のワザ!
12:30~12:55 A-5 原子吸光を用いた微量分析で知っておきたいワザ!
~何をチェックしていますか?~
12:30~12:55 N-2 ☆そのまま見える♪☆
含水試料も前処理無しで観察できる大気圧SEMのご紹介
13:10~13:35 A-2 みんなが知りたい分光光度計の基礎と測定のワザ!
15:30~16:20 N-3 新製品走査型プローブ顕微鏡AFM5500Mと
SEM&SPMコリレーションアプリのご紹介
9月9日(金) 11:10~11:35 A-3 初心者必見!知っておきたい自動滴定の基礎とコツ
11:50~12:15 A-5 材料分析に欠かせない新型GC-MS測定条件の最適化と
メンテナンスのワザ!
12:30~12:55 A-1 TOF-SIMSが切り開く表面近傍の世界:
イメージから深さ方向までの分析事例
13:10~13:35 A-2 ICP-OESを使いこなすためのワザ!
~より良い分析値を出すために~
13:50~14:15 A-3 試料観察熱分析 de トラブルシューティング
15:30~16:20 A-10 ☆『見えた!』から『分かった!』へ♪☆
観る・測る・分かる! 拡がるFE-SEMの使い方
  • * セミナー内容は予告なく変更する場合がありますので、あらかじめご了承ください。

分析機器・科学機器遺産認定

これまでに「分析機器・科学機器遺産」として認定を受けた日立ハイテクグループ製品をご紹介しています。

今年度は、熱分析装置「SSC/560」が第5回 分析機器・科学機器遺産として認定されました。
9月7日(水)16時からJASIS内特設会場で認定証授与式が行われるとともに、同展示会の会期中、会場内で認定品が展示される予定です。