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Hitachi

ハイテクEXPO日立ハイテクノロジーズ

JASIS 2017

アジア最大級の分析・科学機器専門展示会 2017年9月6日(水)~8日(金) 幕張メッセ国際展示場 AM10:00~PM5:00 入場無料

ハイテクEXPO 大杉亜依里と見つける。
日立ハイテク、みりょく発見!

今年も出演します。
日立ハイテクブースでお待ちしています。

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製品導入事例

  • 専門者でなくてもワンクリックで正確な測定が可能
    当社は界面科学をコアに、広い応用分野で新技術を生み続けている企業です。Real TuneⅡを導入したのは、プロジェクター用透過型スクリーン「Dia Lumie」の開発にあたって、ナノスケールの測定が必要になったことがきっかけでした。しかし、AFMの操作は聞いていた通り難易度が高く、実機の視察や各社のデモを体験して、これは当社では扱いきれないと、一度は導入を断念したほどです。
    そんなとき、日立さんから「もっと簡単に操作できる機種があります」と声をかけていただき、半信半疑でデモ機を見学しました。初めてReal TuneⅡに触れたときは、ひとことで言って「感動!」でした。コンソールのオートボタンをクリックするだけで測定してくれる様子を見て、これなら使えると確信しました。

    使いやすいから用途もどんどん広がっています
    当初はナノダイヤの分散・凝集の観察に使用していましたが、現在は、毛髪の断面や加工した繊維、新素材、SEMでは観測できないフィルム上のデータなど、対象はどんどん広がっています。これだけ多岐にわたって活躍しているのも、試料による測定条件の変更が自動でできるなど、使いやすさが追求されているからです。メニュー画面にもすぐ慣れました。分解能から言えば、TEM並みの画像が撮れているので、性能的には十分です。また大気下で操作できるので、試料を自然に近い状態で測定できることもメリットです。
    SISモードはより精度を高めて測定したいときに使用しています。当社は、化粧品なども製造しているので、含水率が高い試料でも正確に計測できるのはありがたいですね。

    サポートのおかげで安心して使えています
    導入するまでは、社内にAFMのノウハウがなかったので、最初は画像を見ても、それが正しく測定できているかどうかすらわからない状態でした。そんなときも、メールで画像を送れば、すぐに「探針が摩耗している可能性がある」など、レスポンスよくアドバイスしてもらえるので、とても安心でした。少しでも不明点があれば気軽に問い合わせできるサポート体制に感謝しています。

  • 選定の決め手は環境制御が容易にできること
    当社は、多種多様な有機・高分子材料の形態観察、表面分析、組成分析などを行なっている企業です。その中で私のグループは現在、プローブ顕微鏡を使用した表面分析を担当しています。
    AFM5300Eは2010年に導入しましたが、選定にあたって大きな決め手になったのは環境制御が容易にできる点でした。当社のような受託分析を行っている企業にとって、あらゆる環境で分析が可能なAFM5300Eは、非常に使い勝手がよく、導入から7年経つ今も、さまざまな試料の物性評価に多用しています。

    直接質問できる安心のサポート体制
    サポートについても信頼しています。AFM5300Eは、基本的に故障の少ない装置ですが、操作ミスからトラブルが起きた際も、素早く、リーズナブルに対応してくれるのはありがたいですね。不明な点や疑問が生じたとき、メールや電話で直接質問できることも、この機種に決めたポイントの一つでした。
    以前、日立主催のスクールでAFMの測定原理からレクチャーしてもらい、非常によく理解できたことが印象に残っています。その後も、セミナーやアドバンススクールで応用範囲の広さを紹介してもらったことで、さらに関心が深まりました。セミナー、スクールは頻繁に開催されているので、当社の若手社員にも勉強に行ってこいと言っています。操作は実地で身につけるしかありませんが、理論面の理解を深める絶好の機会なので。

    測定困難な試料もSISモードなら安定性が抜群
    SISモードは、試料が軟らかく粘着性があっても、また非常に硬い試料であっても、安定して測定できることが魅力です。例えば、導電性ポリマーのような軟らかい試料でも、高分解能で表面を的確にとらえることができています。また、硬度の異なるものが混合した複合材料などの分析は、従来再現性が低かったのですが、SISモードでは安定した測定ができ、助かっています。
    当社に受託分析を依頼するクライアントの第一のニーズは、データの信頼性ですので、SISモードでいつでも安定したデータが得られることは大きなメリットです。さらに言えば、SISモードは探針を引きずらないため、先端のダメージが極端に少なく、ランニングコストが抑えられることも見逃せません。

開催概要

開催日 2017年9月6日(水)~8日(金)
会場案内 〒261-0023 千葉県千葉市美浜区中瀬2-1 幕張メッセ 国際展示場7ホール
(ブースNo. 5A-801) 地図・交通案内
入場料

無料(ただし事前登録が必要です)

主催者のJASIS 2017 Webサイトにて事前入場登録が行えます。

JASIS 2017 Webサイト
主催者 一般社団法人 日本分析機器工業会 /一般社団法人 日本科学機器協会

過去の情報

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  • 分離分析
  • 元素分析

  • 表面観察・
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  • 分光分析

  • 物性分析

  • 滴定・水分・
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  • トピックス

分離分析のハイライト

JASIS2016で発表した分離分析のパネル一覧

トピックス

「社会科学の中で進化していく、日立の計測技術」
~偏光ゼーマン原子吸光光度計1万台納入記念~

1974 年、世界に先駆けて発売された日立の偏光ゼーマン原子吸光光度計が、2016 年、累計1万台の出荷を記録しました。発売以来、42 年の間に改良を重ね、現行製品である ZA3000 シリーズは 11 シリーズ目。
なぜ、日立の偏光ゼーマン原子吸光光度計はこれほどまでの長きにわたり愛され続けてきたのか。その開発者である日立製作所 フェローの小泉英明氏、アプリケーションの開発に携わってきた日立ハイテクサイエンスの米谷明氏に原理と開発秘話について聞くとともに、先人たちの叡智を受け継ぎ、現在、さらなる技術開発に挑む日立ハイテクサイエンスの戸辺早人氏に話を聞きました。

平成28年度日本顕微鏡学会学会賞(瀬藤賞)
受賞インタビュー

2016年6月15日(水)
日本顕微鏡学会第72回学術講演会において、佐藤 貢 主管技師長が、平成28年度日本顕微鏡学会学会賞(瀬藤賞)を受賞いたしました。
日本顕微鏡学会学会賞(瀬藤賞)は、顕微鏡の基礎および応用研究ならびに技術の進歩発展に関し、相当期間にわたって高い水準の業績を上げた功績を顕彰する賞で、長年の測長SEMと超高分解能のインレンズSEMの開発を牽引してきた業績が認められたものです。

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