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Hitachi

株式会社 日立ハイテクノロジーズ

エネルギー分散型X線分析装置 Element(エレメント)は、検出器の先端に世界で初めてSi3N4(シリコンナイトライド)ウィンドウを採用し、高感度化を実現した画期的なEDXです。高感度化に加え、分析スピード、耐久性も向上しています。

価格:12,000,000円~

取扱会社:株式会社 日立ハイテクノロジーズ

特長

世界初シリコンナイトライドSDD検出器

従来のポリマーウィンドウと比較して、薄く成形することが可能なため、X線透過率が高く、感度が向上しています。

  • 全エネルギー範囲にわたる高いX線透過率
  • 特に低エネルギー領域(軽元素)が高感度
  • 検出下限の向上

高耐久性

  • 高い耐久性による破損リスクの低減
  • プラズマクリーナー装着装置にも対応

高計数率、高速分析

  • 高いX線計数率(25 mm2で従来の30 mm2以上)
  • 高計数率でも高エネルギー分解能

シンプル、スマートな操作性で高精度な分析

イメージ収集、スタート、レポートのわずか3クリック。シンプル、スマートな操作性で、高精度の分析結果が得られる革新的なアルゴリズムが特長のソフトウェアです。

仕様

主な仕様

ハードウェア項目仕様
X線検出器(SDD) ウィンドウ:Si3N4(シリコンナイトライド)
検出素子面積:25 mm2
冷却方式:ペルチェ(電子)冷却
エネルギー分解能:131 eV
PC Windwos タワー型PC
ディスプレイ 22型ワイド液晶ディスプレイ
ソフトウェア項目仕様
スペクトル収集 デッドタイム補正、プリセット時間設定、パイルアップ除去
定性分析 高精度オート定性分析(自動残差スペクトル、検出下限チェック)
マニュアル定性分析
HPD定性チェック
定量分析 スタンダードレス定量分析
リファレンススタンダード定量分析(SEC法)
スタンダード定量分析
ポイントアナリシス マルチポイント分析
マッピング スペクトラルマップ(スペクトル保存、レビュー)
線分析 線分析範囲設定(線幅、ステップサイズ)
レビュー マップからのスペクトル抽出(任意矩形、各種イメージの輝度)
マッピング再構築(ROIマップ、定量マップ)
レポート クイックレポート、フォーマット変換(doc、xls、ppt、pdf、jpg他)
 仕様
オプション オプション分解能:129 eV
ライブネットマップ(リアルタイムピーク分離マップ)
スマートフェーズマップ(自動相判定。相ライブラリ機能、再構築)
ドリフト補正
オフラインライセンス