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Hitachi

株式会社 日立ハイテクノロジーズ

MirrorCLEMは、光学顕微鏡と走査電子顕微鏡による同一箇所の観察を容易にするCLEM*1用システムです。

*1:
CLEM (Correlative light and electron microscopy):光学顕微鏡と電子顕微鏡のそれぞれを相関して観察する顕微鏡法

価格:お問い合わせください

取扱会社:株式会社 日立ハイテクノロジーズ

特長

MirrorCLEMは、FE-SEMを用いて迅速かつ正確なCLEM解析を支援するシステムです。
このシステムにより、樹脂切片を光学顕微鏡を用いて低倍率からターゲット構造が明瞭に観察される高倍率まで観察した後、観察位置情報をFE-SEMのステージ位置情報と同期させたうえ、ステージの外部制御を行うことで、FE-SEMによる同一箇所の観察が可能になります。
また、光学顕微鏡とFE-SEMのオーバーレイ画像のリアルタイム表示も可能です。

システム構成品

動画