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Hitachi

株式会社 日立ハイテクノロジーズ

SMD型水晶振動子の温度特性を高速で測定検査する装置です。

取扱会社:株式会社 日立ハイテクノロジーズ

特長

高速検査

  • タクトタイム 1.0秒/個以下
    高速タクトで水晶振動子の温度特性を検査します

高精度

  • 均一温度分布温調プレート
    温度制御にペルチェ素子を採用することにより均一な温度分布を実現

フレキシブル

  • キャリア変更と画面機種選択によるワークサイズ変更
    キャリアを変更するだけで様々なワークサイズに対応します
    ワークの供給(トレーまたはパーツフィーダ)、ワークの収納(バラ分類、トレー、テーピング)など前後
    工程に合わせたLD/ULD付き自動化システムの構築が可能です

システム概要

外形寸法
  • C3タイプ W2000×D1200×H1700(計測部、パトライトは除く)
  • C5タイプ W2900×D1200×H1700(計測部、パトライトは除く)
対象ワーク 5032・3225・2520・2016PKG
測定温度点
  • C3タイプ 3ポイント(-40° C~+125° C)
  • C5タイプ 5ポイント(-40° C~+125° C)
計測器  別途相談(ご要望の計測器にて検討致します)

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