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Hitachi

株式会社 日立ハイテクノロジーズ

ナノアート

Cross sectional observation of the earth

©日立計測エンジニアリング(株) 矢口紀恵、黒田靖、上野武夫
©(株)日立製作所 計測器グループ 橋本隆仁
©東北大学 本部 中塚勝人、東北大学 田路和幸

超能力を持つエイリアン、写真はそのエイリアンが攻撃目標に定めた地球の透視像。この観察の狙いは地球の弱点を見つけることに有ります。手前に見えるのは月。地球攻略のベースキャンプの場所を探しています。観察の目的に合わせ、異なった種類の像を同時にみる、エイリアンの能力を持ってすれば朝飯前のことです。地球危うし!
実はこの試料、Fe微粒子を各二層のTiO2およびSiO2で覆った高機能性ストラティファイド粒子です。手前の月に見えるのがそのSEM像、奥の地球に見えるのがFIB加工で作製した薄膜の断面STEM像で、どちらも200 kVで観察したものです。

2000年(第56回)日本電子顕微鏡学会
写真コンクール 出展作品

撮影条件

  • 試料:ストラティファイド粒子(光干渉反射型着色磁性粒子)
  • 測定装置:超薄膜評価装置 HD-2000
  • 加速電圧:200 kV

試料ご提供:東北大学 本部 中塚勝人様、東北大学 田路和幸様

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: 作成者の所属情報は作成当時の情報です。
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: この作品は日本顕微鏡学会主催、「写真コンクール」に出展された作品です。
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: 「nanoart」は(株)日立ハイテクノロジーズの日本国内における登録商標です。