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技術機関誌 SI NEWS日立ハイテクノロジーズ

ご好評いただいておりますUH4150形分光光度計の高吸光度測定、超低透過率測定に特化したモデルとして、UH4150AD形分光光度計を発売開始しました。バンドパスフィルターやカットフィルターなどの光学薄膜の評価や品質管理などにご利用いただけます。

主な特長

  1. 測光レンジ8 Abs(紫外・可視域)の超低透過・高吸光度の測定が可能
    新規のグレーティング-グレーティング型ダブルモノクロメータの採用により分光器の低迷光化を図り、紫外・可視領域の高測光レンジ化(8 Abs)を実現しました。
  2. 平行光束による精度の高い正反射測定が実現可能1)
    UH4150AD形に積分球を搭載することにより、従来機2)と同様に平行光束による測定が可能です。特に平行光束の場合、入射角は試料に対してほぼ一様となり精度の高い正反射測定が可能です。
  3. UH4150AD形の試料室は従来機2)の試料室と同一の構造を使用
    UH4150AD形の試料室は大形試料の設置、各種付属装置の拡張性、ユーザーの作業性の点でご好評いただいております従来機の試料室と同一の構造を採用しています。
1)
積分球搭載時
2)
UH4150形分光光度計

UH4150AD形紫外可視近赤外分光光度計の概観

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