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Hitachi

日立高新技术在中国

通过强化与客户的协同创新
促进电子显微镜与扫描探针显微镜等解析事业的综合解决方案开发

Advanced-Technology Innovation Center Naka
Advanced-Technology Innovation Center Naka

开业仪式
开业仪式

2022年5月31日,日立高新技术公司(以下简称“日立高新”)以提高解析系统产品解决方案的开发能力为目的,在设计开发工厂所在的茨城县日立那珂市,设立了面向客户样品演示及与客户协同创新的全新应用中心“Advanced-Technology Innovation Center Naka”(以下简称“ACN”)。

开设新址的背景

电子显微镜、扫描探针显微镜等解析系统产品,在半导体、材料、生物等众多领域中,从研究开发到品质管理被广泛应用于构造研究、检测、分析、物性检测等各种场景当中。特别是在当下加速发展碳中和和5G等应用的背景下,对于样品要了解到其从厘米到纳米的多维度构造及性质的需求增加,这就需要通过不同的产品组合来提供综合解析数据。为了迅速满足这些需求提供解决方案,于是将之前设立在茨城县日立那珂市和神奈川县川崎市的应用中心迁移到能够容纳所有产品的新址进行汇集。通过将新址设立在毗邻那珂地区设计开发工厂的位置,旨在实现在半导体、环境、安心安全领域中开发出新的分析检测解决方案。今后还将在那珂地区的设计开发力和产品制造力的基础上,通过与国内外客户的协作创新进一步强化新的综合解决方案的开发。另外,新址除面向客户提供仪器的样品测试、操作培训等业务以外,还将结合疫情后新的工作方式提升线上远程解决问题的能力,为客户提供更加便利的服务。
日立高新将以本次 ACN 的设立作为日立正在推进的 Lumada 事业中的重要一环,通过充分利用“观察·检测·分析”这一日立高新技术集团的核心技术更加迅速地向客户提供综合解决方案,通过面向先端领域客户的活跃与发展贡献力量,进一步提高客户满意度,实现事业的发展壮大。

Advanced-Technology Innovation Center Naka的概要

  • 设立:2022 年 5 月 26 日
  • 地址:〒312-8504 茨城县日立那珂市市毛 882 番地
  • 展示产品:
    场发射透射电子显微镜 (FE-TEM)、透射电子显微镜 (TEM)、
    场发射扫描电子显微镜 (FE-SEM)、扫描电子显微镜 (SEM)、台式电子显微镜 Miniscope®
    聚焦离子束 (FIB/FIB-SEM)、扫描探针显微镜 (FIB/FIB-SEM)、纳米尺度3D光学干涉测量系统(CSI)
  • 总面积:约 1,620 m2

电子显微镜/扫描探针显微镜相关产品网站链接

关于日立高新

日立高新是于2001年由日立制作所株式会社的测量装置组、半导体制造装置组与作为先端产业领域的专门商社日制产业株式会社统合后诞生的。2020年成为日立制作所的子公司,通过强化与母公司之间的合作,不断创造社会、环境价值,为实现社会的可持续发展作出贡献。在医用分析装置、生物相关产品、分析装置、半导体制造装置、解析装置的生产销售以外,通过在社会、产业基础设施、移动等领域提供高附加价值的解决方案,面向全球进行事业的开展。(截止到2022年3月日立高新技术集团的连结销售额为5,768亿日元)。