日立经典款荧光分光光度计于2019年10月推出全新附件：荧光分布成像系统(EEM View)。它拥有行业首创的技术，同时分析荧光光谱和反射光谱，将样品的光谱信息可视化，同时获得更加细致的光谱信息。
为了让客户更好的了解这项新技术, “荧光分布成像系统”巡回讲座已于11月15日正式启动，我们会为大家带来：
新技术讲座将经过山西、河北、北京、天津、南京、杭州、福州等十几个城市。
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