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Hitachi

日立高新技术在中国

TM系列专用能谱仪(EDS) Quantax75

操作简单且直观

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:和TM4000Plus搭配应用实例
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:探测器内置型
(制造商: 德国Bruker nano GmbH)

特点

通过简单操作即可迅速获取彩色X射线面分布

移动到指定位置,可实时确认其谱图

双屏显示

仅需选择图像和模板,即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同时,实时显示点分析、线分析结果等多种分析。

超高的性能(hyper map)成就了一次测试即可获取点分析、线分析、面分布结果

点分析

可根据点位置移动实时追踪谱图,轻松确认目标元素。

实时在线谱峰剥离面分布

分离出常规面分布图像中的谱峰重叠元素,并显示正确结果。

 

规格

検出器

项目内容
探测器类型 硅漂移探测器
探测器面积 30 mm2
能量分辨率 148 eV (Cu-Kα)
(Mn-Kα时不高于129 eV)
可检测元素 B5~Cf98