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电子显微镜 (SEM/TEM/STEM)

为您介绍电子显微镜(SEM/TEM/STEM)(场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)、扫描电子显微镜(SEM)、台式显微镜、透射电子显微镜(TEM/STEM))。

超高分辨肖特基场发射扫描电子显微镜SU8700

超高分辨肖特基场发射扫描电子显微镜SU8700

随着快速数据采集和数据处理技术的发展,电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量,而且注重其采集过程的时代。SU8700作为一款面向新时代的SEM,在日立电镜贯有的高图像质量和高稳定性的基础上,增加了包括自动获取数据等高通量的功能。

超高分辨场发射扫描电子显微镜 SU8600系列

超高分辨场发射扫描电子显微镜 SU8600系列

随着快速数据采集和数据处理技术的发展,电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量,而且重视其采集过程的时代。SU8600系列秉承了Regulus8200系列的高质量图像、大束流分析及长时间稳定运行的冷场成像技术,同时还大大提升了高通量、自动数据获取能力。

超高分辨率场发射扫描电子显微镜 SU9000II

超高分辨率场发射扫描电子显微镜 SU9000II

专门为电子束敏感样品和需最大300万倍稳定观察的先进半导体器件,高分辨成像所设计。

超高分辨场发射扫描电子显微镜Regulus系列

超高分辨场发射扫描电子显微镜Regulus系列

现有机型SU8240,SU8230,SU8220及SU8010重新整合,衍生而成Regulus8240、Regulus8230、Regulus8220。

超高分辨肖特基场发射扫描电镜 SU7000

超高分辨肖特基场发射扫描电镜 SU7000

SU7000不仅可以在低加速电压下获得高画质图像,而且还可以同时接收多种信号。此外,它还具备大视野观察、In-Situ观察等FE-SEM的众多优异性能。 SU7000是一台实现了获取大量信息的新型扫描电镜,可以满足客户的多种观察需求。 接下来请欣赏SU7000带来的多彩世界。

热场式场发射扫描电镜 SU5000

热场式场发射扫描电镜 SU5000

创新的“EM Wizard”界面更加直观,仅需要“点击”即可得到理想的图像。 超前的电脑辅助技术将电镜的操作与控制提升到一个新水平。

光-电联用显微镜法(CLEM)系统 MirrorCLEM

光-电联用显微镜法(CLEM)系统 MirrorCLEM

MirrorCLEM是一个可简便观察光学显微镜和扫描显微镜同一位置的CLEM用系统。

扫描电子显微镜 SU3800/SU3900

扫描电子显微镜 SU3800/SU3900

日立高新推出的扫描电镜SU3800/SU3900兼具操作性和扩展性,结合众多的自动化功能,可高效发挥其高性能。SU3900标配多功能超大样品仓,可应对大型样品的观察。

扫描电子显微镜  FlexSEM 1000 II

扫描电子显微镜 FlexSEM 1000 II

“先进的SEM更为紧凑” 宽幅仅为45 cm的紧凑型的设计,仍具备4.0 nm的图像分辨率。全新开发的用户界面和电子光学系统让您深切体验其高性能。

台式显微镜 TM4000II/TM4000PlusII

台式显微镜 TM4000II/TM4000PlusII

TM4000 II可支持20kV的加速电压。此外,凭借Multi Zigzag(连续视野捕获功能:可选)可实现范围更广的SEM观察。并竭诚为您提供可广泛观察、分析的应用程序。

TM系列专用能谱仪(EDS)AZtec系列

TM系列专用能谱仪(EDS)AZtec系列

TM系列专用能谱仪(EDS)AZtec系列的特点是「图标按操作流程顺序排列,操作简便」,「通过对应谱图可简单确认元素重叠状况」,是「通过TruMap功能分离出谱峰重叠元素并准确显示(AZtecOne)」。

TM系列专用能谱仪(EDS) Quantax75

TM系列专用能谱仪(EDS) Quantax75

TM系列专用能谱仪(EDS) Quantax75的特点是「通过简单操作即可迅速获取彩色X射线面分布」,「移动到指定位置,可实时确认其谱图」,是「超高的性能(hyper map)成就了一次测试即可获取点分析、线分析、面分布结果」。

球差场发射透射电子显微镜 HF5000

球差场发射透射电子显微镜 HF5000

200 kV相差校正TEM/STEM,平衡了空间分辨率和倾斜、分析性能。通过单极片实现0.078 nm的STEM空间分辨率和高样品倾斜度、高立体角EDX。

透射电子显微镜HT7800系列

透射电子显微镜HT7800系列

"RuliTEM"120 kV透射电子显微镜系列,包含配备高衬度透镜,实现大视野、高对比度观察的HT7800和配备高分辨率透镜的HT7830。