应用：纳米尺度3D光学干涉测量系统 (CSI)
我们在此向您介绍许多有关分析方法及使用我们的纳米尺度3D光学干涉测量系统 (CSI)获得的相应结果数据。
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| HTD-CSI-E011 | 利用CSI评价铝箔表面的形貌 | 下载 |
| HTD-SEM-E093 | 多层膜内异物分析 | 下载 |
| HTD-SEM-E126 | 破骨细胞的扫描电镜和白光干涉仪成像观察 | 下载 |
| HTD-AFM-E026 | 使用AFM和CSI测量超平聚酯纤维薄表面的纳米3D形貌 | 下载 |
| HTD-CSI-006 | 胶囊包装PTP片的厚度不均衡评价 | 下载 |
| CSI-CN01 | 多层膜无损测量分析 | 下载 |
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