通用型原子力显微镜 AFM5100N

AFM5100N除了激光检测方式之外，全新的「自检测悬臂」，在保证高分辨表面形貌观察的同时，大大简化了AFM悬臂操作。

特点

通常的悬臂是非常渺小而且很难操作，内部装有传感器的「自检测悬臂」比普通的AFM探针要大得多，容易拿取，安装非常简单方便。

激光检测方式的探针需要调节激光光斑的位置，操作复杂，而采用自检测方式的「自检测悬臂」无需调节激光光斑。

悬臂的机械结构，能够以俯视方式直接观察悬臂的位置，从而轻松调整样品的测量的位置。除此之外，更加尖锐的探针提高了分辨率。

通过流程图形式的导航系统，任何人都可以轻松地进行高分辨表面测量。另外，通过设定样品的软硬度和凹凸系数等参数，能够简单确定测量条件。

主机上包含减震台、隔音罩、光学显微镜等附件，安装紧凑，体积小巧。

通过激光检测方式，能够扩展各种各样的选配功能。另外，只要插拔一根电缆就能够切换成激光检测方式。

检测方式	激光检测方式/自检测方式
样品尺寸	最大35 mmφ、厚度10 mm（专用配件厚度扩展至20 mm）
扫描范围	20 µm/1.5 µmH（水平/垂直） 100 µm/15 µmH 150 µm/5 µmH 110 µm/6 µmH（闭环差控制）
定位显微镜	搭载CCD的变焦显微镜光学显微镜金相显微镜（可以选配）
减震方式	台式减震台落地式减震台（可以选配）
操作画面	搭载流程图的操作导航系统
检测功能	DFM（dynamic force mode） CURRENT、SSRM、SNDM、PRM、KFM PM（相位模式）（可以选配）
扩展功能	AFM、STM、SIS、FFM、LM-FFM、VE-AFM/DFM、Adhision、CURRENT、KFM、PRM、SNDM、SSRM、EFM、MFM