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走査型白色干渉顕微鏡関連 オプション

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)関連 オプション

白色光源から照射された光を2つに分け、一方をサンプル表面に照射し、双方から反射された光を結像します。 試料凹凸によって生じる干渉縞を高さ情報に変換し、3次元形状を画像表示する装置です。

取扱会社:株式会社 日立ハイテクフィールディング

レンズ(走査型白色干渉顕微鏡用)

商品コード商品名
K-W14500003 二光束干渉対物レンズ2.5XTI
K-W14500007 二光束干渉対物レンズ5XTI
K-W14500005 二光束干渉対物レンズ10XDI
K-W14500006 二光束干渉対物レンズ20XDI
K-W14500008 二光束干渉対物レンズ50XDI
K-W14500009 二光束干渉対物レンズ110XDI

* 視野サイズは、レンズ以外に中間レンズやCCDカメラの組み合わせにより異なります。

* 2.5Xのレンズはご使用の装置によっては装着できない場合があります。

* ご使用の装置によっては別途「干渉対物レンズアダプタ」が必要になります。

オプションレンズ使用観察例

液晶ガラス打痕

  • 使用レンズ
    2.5XTI
  • 視野サイズ
    2.5 mm×1.8 mm

低倍率の対物レンズを使用することで視野が広がり、対象物全体を1ショットで計測可能になります。
装置構成によりますが、1ショットの最大は7 mm×5 mmとなります。

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光沢フィルム

  • 使用レンズ
    50XDI→110XDI
  • 視野サイズ
    0.092 mm×0.070 mm→0.042 mm×0.031 mm

高倍率の対物レンズを使用することにより、光学分解能が向上し、サンプル表面の細かな凸凹を測定可能になります。

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消耗品の価格について

消耗品の価格などについては、会員制サイトS.I.naviにてご覧いただけます。

* ご使用製品の登録(型式、シリアルNo.など)が必要です。

【会員制サイトS.I.navi】

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