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日立ハイテク
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走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)関連 オプション

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)関連 オプション

試料表面と探針との間に働く力を検出して、表面の凹凸情報を画像化します。また、電気特性/機械物性情報を検出し、3次元表示も可能な装置です。

取扱会社:株式会社 日立ハイテクフィールディング

小型ユニット用(走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)用)

スキャナ

20 µmスキャナ

走査範囲:面内20 µm、垂直1.5 µm

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対応ユニット AFM100 シリーズ

100 µm/150 µmスキャナ

100 µm走査範囲:面内100 µm、垂直15 µm
150 µm走査範囲:面内150 µm、垂直5 µm

-
対応ユニット AFM100 シリーズ

カンチレバーホルダー

外部アンプ対応マルチホルダ

【標準測定モード】
AFM , DFM , PM(位相測定)

【電流測定モード】
AFM 電流同時測定 , Pico-current , CITS , SSRM

* 電流測定モードは、電流アンプやケーブル(オプション)が必要になります。

-

マルチホルダ用同軸ケーブル

マルチホルダ用のケーブルは取外し可能です。
紛失や断線の際はケーブルのみご購入いただけます。

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対応ユニット AFM100 シリーズ

液中観察ホルダ

* 溶液対応拡張セット、液中測定用シャーレステージが別途必要

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対応ユニット AFM100 シリーズ
AFM5300E*

液中DFMホルダ

* 溶液対応拡張セット、液中測定用シャーレステージが別途必要

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対応ユニット AFM100 シリーズ
AFM5300E*

拡張ユニット

50 mm角試料用嵩上げブロック

嵩上げブロックを装着することにより、厚みのあるサンプルにも対応可能になります。

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対応ユニット AFM100 シリーズ

大気加熱試料台

最高加熱温度:250°C(ヒーター温度)
測定可能温度:200°C(ヒーター温度)
試料サイズ:10 mm x ヨコ10 mm x 厚さ1 mm

* 嵩上げブロックが別途必要となります

* ユニットには含まれません。別途納品作業費が必要となります。

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対応ユニット AFM100 シリーズ

環境制御ユニット用(走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)用)

スキャナ

20 µmスキャナ

走査範囲:面内20 µm、垂直1.5 µm

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対応ユニット AFM5300E

100 µm/150 µmスキャナ

100 µm走査範囲:面内100 µm、垂直15 µm
150 µm走査範囲:面内150 µm、垂直5 µm

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対応ユニット AFM5300E

カンチレバーホルダー

カンチレバー取付治具

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対応ユニット AFM5300E

拡張ユニット

6段式アッテネータ

加振電圧信号を抑えることによりカンチレバーの振幅を小さくするために使用するものです。
(1/1~1/1000倍)真空測定時に主に使用します。

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対応ユニット AFM5300E

溶液対応拡張セット

AFM5300Eにて液中測定を可能、または標準カンチレバーホルダを使用可能にするためのフランジです。
AFM5100N/AFM5200Sの液中/大気カンチレバーホルダが使用可能になります。

* 液中測定用シャーレステージが別途必要になります。

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対応ユニット AFM5300E

共通(走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)用)

ロータリーポンプ

電源:単相 100V

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対応ユニット AFM5300E

センサー内蔵(自己検知方式)カンチレバー用ピンセット

ピンセット先端に溝が付いているタイプで、
センサー内蔵カンチレバー専用です。

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静電気防止ピンセット

一般的なカンチレバーにご使用いただけます。
センサー内蔵カンチレバーにはご使用いただけません。

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カンチレバー用ゲルパック(5個/組)静電気対策品

カンチレバーケース
試料固定用に使用可能です。

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