サポート情報

半導体装置
エッチング装置、測長装置、ウェーハ表面検査装置など。

電子顕微鏡／プローブ顕微鏡
透過電子顕微鏡（TEM）、走査透過電子顕微鏡（STEM）、走査電子顕微鏡（SEM）、集束イオンビーム加工観察装置（FIB／FIB-SEM）、X線分析装置、ウルトラミクロトーム、イオンミリング装置、フォトマスクリペア（MR）、走査型プローブ顕微鏡（SPM／AFM）、走査型白色干渉顕微鏡（CSI）など。

分析装置
分光光度計、分光蛍光光度計、原子吸光光度計、高速液体クロマトグラフ、高速アミノ酸分析計、クロマトデータ処理装置、タンパク質解析用液体クロマトグラフ質量分析計など、およびガスバリア試験装置などの輸入機器。

計測制御システム
各種プロセス用工業計器および各種プラント用計測・制御・生産管理システム、各種水質分析計、テレメータ装置、ダイオキシン前躯体モニタ、PCBモニタなど。

医用機器
生化学自動分析装置、検体検査自動化システム、遺伝子関連検査システム、高純水製造システムなど。

部品・消耗品／関連機器
日立ハイテク製 装置・システムの部品・消耗品、および各種電子顕微鏡・分析装置の周辺機器、ALLIED社製 精密研磨装置、Leica社製 電子顕微鏡用試料作製装置、ニューメタルスエンドケミカルスコーポレーション社製ダイヤモンドワイヤー切断機など、および移設・移転。