ページの本文へ

Hitachi

日立ハイテクサイエンス

2017年10月17日

サプライチェーンのグローバル化・複雑化に伴い、品質管理、特に低コスト・効率的に評価できるスクリーニング分析技術の重要性が増すにつれ、日本発のスクリーニング分析法が複数開発され、有機・無機化合物の両面で技術が充実してきています。
このたび、特に有機化合物のスクリーニング分析にフォーカスした、国内外の法規制から最新の分析技術に関する動向の情報整理のため講演会が開催されます。当社からも「加熱脱離質量分析計HM1000によるフタル酸エステル類の迅速分析」と題して講演を担当させていただきます。
参加をご希望される方は下記の方法にて直接事務局へお申し込みくださいますようご案内いたします。

開催概要

日時

10月27日 (金) 13:00~17:30

会場

オルガノ株式会社 本社 2F 211会議室
〒136-8631 東京都江東区新砂1丁目2番8号

主催

スクリーニング分析講演会実行委員会

共催

(公社)日本分析化学会

定員

60名

参加費

1000円(当日会場で申し受けます)

お問合せ

[事務局](株)神戸工業試験場 三島有二

お申し込み

申込方法

参加希望者は、氏名、勤務先、連絡先、懇親会参加の有無を明記のうえ、E-mailにより下記宛にお申し込み下さい。参加証は発行しませんので、直接会場にお越しください(定員締切後の申込みにつきましては後日に連絡します)。
申込締切日:10月24日 (火)

問合先・申込先

[事務局](株)神戸工業試験場 三島有二

プログラム

プログラム
13:00~13:30 受付
13:00~13:40 開会挨拶
13:40~14:30 RoHS,REACHなど法規制に関する過去・現状・未来予測
[東京環境経営研究所・松浦徹也]
14:30~15:20 加熱脱離イオン化質量分析計HM1000によるフタル酸エステル類の迅速分析
[日立ハイテクサイエンス・大川 真]
15:20~15:35 休憩
15:35~16:25 アンビエントイオン化法 DART (Direct Analysis in Real Time) の
製品含有化合物の迅速分析への応用 [日本電子・田村 淳]
16:25~17:15 DIP/MSによる製品含有物質評価:中~高沸点、難揮発性化合物まで
[産業技術総合研究所・津越敬寿]
17:15~17:30 閉会挨拶
懇親会
講演会終了後、有志で懇親会を予定しています。懇親会費は実費精算(4000~5000円程度)となります。