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日立ハイテクサイエンス

日本分析化学会関東支部 第58回機器分析講習会のご案内

第4コース:「環境規制に関する分析手法 ~RoHS分析を中心に~」

2018年1月15日

製品含有化学物質管理には環境規制物質の有無を特定し、その含有量を明らかにすることが重要です。近年はグローバル化する企業活動におけるRoHS指令などへの対応が求められており、迅速なスクリーニング分析と閾値を超えた場合の詳細分析という段階的な分析手法も定着しつつあります。その中で欧州RoHS指令の新たな規制物質となるフタル酸エステル類の分析手法についてはスクリーニング分析と詳細分析について焦点をあてた内容の講習会が日本分析化学会関東支部の主催で開催されます。本講習会ではこれらの分野の第一線の先生方の講義を受講していただくとともに、受講生が実際に数種の分析機器(ソックスレー溶媒抽出、マイクロ波分解、GC-MS、フタル酸エステル類検査装置、ICP発光分光分析、蛍光X線分析、分光分析)を体得できるような内容となっております。

開催概要

会期

2018年3月1日(木)~3月2日(金)

会場

株式会社日立ハイテクサイエンス
サイエンスソリューションラボ東京
東京都中央区新富2-15-5 RBM築地ビル
TEL:03-6280-0068

主催

日本分析化学会関東支部

協賛

日本環境測定分析協会

募集人員

40名
講義のみも可(定員になり次第締め切ります)

受講料

テキスト代、昼食代、消費税を含む
会員(共催学会会員を含む)35,000円、
会員外40,000円。
講義のみ
会員20,000円、会員外25,000円。
  • * 参加費の払い戻しは致しませんので、あらかじめご了承ください。

申込方法

日本分析化学会 関東支部のホームページ(http://www.jsac.jp/~kanto/)をご参照ください。

問い合わせ先

講習会全般について
〒141-0031 東京都品川区西五反田1-26-2
五反田サンハイツ304号
公益社団法人 日本分析化学会
関東支部機器分析講習会係
電話:03-3490-3351、FAX:03-3490-3572
E-mail:kanto@jsac.or.jp
講習会内容について
株式会社日立ハイテクサイエンス 並木
TEL:03-6280-0068

プログラム

日程

日程
第1日 <講義>10時00分~17時15分
<技術交流会>17時30分~19時00分
第2日 <実習>9時30分~16時30分

講義

「RoHS指令関連の新規環境規制物質の分析手法について」
(産業技術総合研究所) 松山重論
「製品含有化学物質管理に関する国際動向 -IEC 62321を中心として-」
(株式会社日立ハイテクノロジーズ) 竹中みゆき
「ELV/RoHS指令におけるスクーリング方法の実際」
(矢崎総業株式会社) 中込政樹
「フタル酸エステル類などのスクリーニングによる製品含有化学物質管理」
(株式会社東芝) 佐藤友香
「六価クロムを中心とした環境規制物質の分析事例」
(神奈川県産業技術センター) 坂尾昇冶
「RoHS分析における試験所の役割とデータの信頼性について」
(日本適合性認定協会) 松本年雄
  • * 講演の順番については変更の可能性があります。

実習

(1) フタル酸エステル類のスクリーニング手法および詳細分析

フタル酸エステル類のスクリーニング手法としては、固体試料を直接分析するPy/TD-GC-MSおよびフタル酸エステル類検査装置よる測定を行う。詳細分析についてはソッスクスレー溶媒抽出と、GC-MSの測定を行う。

(2) RoHS指令対象試料の種々の前処理と詳細分析

固体試料を酸分解またはマイクロ波分解し、試料に含まれるCd,Pb,Cr,Hgの規制物質をICP発光分光分析する。Cr(Ⅵ)についてはクロムメッキ試料からCr(Ⅵ)を選択的に溶出させ、分光光度計を用いジフェニルカルバジド法で測定する。

(3) 蛍光X線分析を用いたスクリーニング方法

蛍光X線分析法によるスクリーニング分析について実習し、規制物質の含有の有無を把握する。基礎的なデータの管理からマッピング分析、鉛フリーはんだや無電解ニッケルなどめっき皮膜中の規制物質測定などについての応用手法を行う。