蛍光X線膜厚計 X-Strata920SDD

半導体検出器搭載により、フラッシュ金（Au）めっきの膜厚測定や無電解ニッケル（Ni）めっきのリン(P)濃度測定等、比例計数管モデルでは測定の難しいアプリケーションに対応可能です。
また、複数種類あるステージやコリメータからの選択により、最適な装置構成を実現できます。

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取扱会社：株式会社日立ハイテクサイエンス

特長

Al(13)からU(92)までの元素に対応。フラッシュAuめっきの膜厚測定や無電解Niめっきの膜厚及びP濃度の同時測定等に適しています。

15種類以上のコリメータから最大6種類まで選択が可能です。

電動、大型サンプル用、高さのあるサンプル用等、サンプル形状や運用に応じた最適なステージを選択出来ます。

試料画像やタスクコマンド、測定結果などを１つの画面内に見易く配置しています。オペレータに必要な情報のみ表示させるようなカスタマイズも容易です。

代表的なアプリケーションは予め設定済みですので、選択したアプリケーションの設定に従って標準物質を測定するのみで簡単に分析条件を作成することができます。

ステージ構成
測定元素	Al(Z=13)～U(Z=92)
X線管球	Wターゲット管電圧50 kV、管電流1.0 mA
検出器	シリコンドリフト検出器（SDD)
コリメータ	単一または複数（Max 6種類まで）最小：0.025×0.051 ㎜最大：0.51 ㎜&pai;
ソフトウェア	Windows10(日本語)
アプリケーション	定性分析、単層膜厚、複層膜厚（最大5層、15元素）、2成分合金単層膜、めっき液測定（オプション）
標準ステージ	試料高さ：Max 16 ㎜装置サイズ：407 (W)×770 (D)×305 (H) mm
ミニウェル	ベースプレート位置4段階可変試料高さ：Max 143 ㎜装置サイズ：407 (W)×770 (D)×400 (H) mm
ワイドステージ	ベースサイズ：560 ㎜×610 ㎜（固定）試料高さ：Max16 ㎜装置サイズ：610 (W)×1037 (D)×305 (H) mm
電動ステージ	ステージサイズ：560 ㎜×610 ㎜ (電動) ステージ移動量：178 ㎜×178 ㎜試料高さ：Max 16 ㎜装置サイズ：610 (W)×1037 (D)×375 (H) mm
電源	85V～130V / 47Hz～63Hz