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Hitachi

日立ハイテクサイエンス

画像:固体発光分光分析装置(OES)

製品情報

  • CMOS搭載 卓上/据置型固体発光分光分析装置 OE750 CMOS検出器搭載により、より精度の高い分析を可能にしたフラグシップモデルです。 新たな光学系によりシリーズ最高の精度ながら、コンパクトになった筐体は卓上に設置が可能であり、研究、品質管理、品質保証と様々な場面で活躍できます

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  • CMOS搭載 据置型固体発光分光析装置 OE720 CMOS検出器搭載の非鉄/ダイカストモデルです。 規格元素はもちろん、PやLi、Ti、Feなどの微量元素も測定可能です。

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  • CCD搭載 卓上/据置型固体発光分光分析装置 FM Expert CCD検出器搭載のエントリーモデル 汎用機でありながら、高い検出感度で鉄鋼中の窒素(N)検出も可能な、鉄鋼、鋳鉄、非鉄、ダイカスト対応モデルです。

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  • CCD搭載 卓上型固体発光分光分析装置 FOUNDRY MASTER Smart CCD検出器搭載の品質管理の決定版 鉄鋼、非鉄鋳物、ダイカスト材であるADCやZDCの成分管理に最適な、コストパフォーマンスに優れた品質管理の決定版

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アプリケーションデータ

固体発光分光分析装置(OES)のアプリケーションを紹介しています。

固体発光分光分析装置(OES)

テクニカルサポート

固体発光分光分析装置(OES)に関する最新情報を紹介しています。

原理解説

固体発光分光分析装置(OES)の原理解説のご紹介です。

前処理について

固体発光分光分析における前処理について、実例の紹介です。