Hitachi

発光分光分析装置(ICP)のアイコン一覧

シーケンシャル ・・・ シーケンシャル型
多元素同時型 ・・・ 多元素同時(マルチチャンネル)型
省スペース ・・・ コンパクト設計で省スペースタイプの装置
高分解能 ・・・ 高分解能
DD ・・・ ハイパーダイレクトドライブシステム
CCD ・・・ CCD(電荷結合素子)検出器搭載
CRI ・・・ CRI(コリジョン リアクション インターフェイス)搭載
90度反射型 ・・・ 90度偏向イオン光学系を採用
シングルコレクタ ・・・ シングルコレクタ型
マルチコレクタ ・・・ マルチコレクタ型
二重収束型 ・・・ 二重収束型
四重極 ・・・ 四重極
VUV ・・・ 真空紫外線(Vacuum Ultra Violet, VUV)
MV ・・・ マルチ・ビュー(ラジアル/アキシャルの完全な切り替え機能)
チラー不要 ・・・ チラー(循環冷却水装置)不要

蛍光X線分析装置(XRF)のアイコン一覧

LN2レス ・・・ 液化窒素レスタイプ
上面照射 ・・・ X線の上面照射タイプ
下面照射 ・・・ X線の下面照射タイプ
DPD ・・・ DPD(デジタルピーク分離)ソフト内蔵
管理ソフト ・・・ 精度管理型の有害物質管理ソフト
多点連続 ・・・ 試料室に複数の試料を並べて測定する連続多点測定機能搭載
マッピング ・・・ 元素の二次元マッピング像取得に対応
RoHS ・・・ RoHS対応向け
一般分析 ・・・ 一般分析向け
異物 ・・・ 異物分析向け
連続測定 ・・・ 連続測定
X線透過 ・・・ X線透過システム
自動検出 ・・・ 自動異物検出
顕微鏡 ・・・ 高分解能顕微鏡
土壌 ・・・ 土壌分析

膜厚測定装置のアイコン一覧

上面照射 ・・・ X線の上面照射タイプ
ズーム ・・・ 焦点距離切換機能付きズーム式光学系採用
High X線 ・・・ 75WハイパワーX線管球搭載
衝突防止 ・・・ 装置と試料の衝突防止機能搭載
高精度ステージ ・・・ 高精度ステージを採用
LF ・・・ レーザーフォーカス
薄膜FP ・・・ 薄膜FP法ソフト付属
AF ・・・ オートフォーカス
広域 ・・・ 広域観察システム搭載
標準不要 ・・・ 標準試料不要
集光 ・・・ X線集光光学系
H-I照明 ・・・ 高輝度照明
微小領域 ・・・ 微小領域

走査型プローブ顕微鏡(SPM)のアイコン一覧

JIS R 1683 ・・・ AFM表面粗さJIS規格(JIS R 1683:2007)対応
SIS ・・・ SIS(サンプリング・インテリジェント・スキャン)モード搭載
Q ・・・ Q値コントロール機能対応
CL ・・・ クローズドループ制御機能対応
SLD ・・・ 光てこ方式(低コヒーレントレーザー)
LD ・・・ 光てこ方式(半導体レーザー)
自己検知 ・・・ 自己検知方式
低ドリフト ・・・ 低ドリフト
溶液 ・・・ 液中測定対応
真空 ・・・ 真空中測定対応
湿度 ・・・ 温度制御対応
6/8 ・・・ 6インチ、8インチ試料対応
自動交換 ・・・ カンチレバー自動交換機能搭載
省スペー ・・・ コンパクト設計で省スペース
低価格 ・・・ お求め安い価格設定
RealTune®II ・・・ RealTune®II 測定パラメータ自動調整機能