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Hitachi

日立ハイテクサイエンス

従来、蛍光X線による異物分析は肉眼もしくは顕微鏡で確認された比較的大きな異物に微小ビームを照射しその元素分析を行う事にとどまっていました。
EA6000VXではその高感度化と高速マッピング機能により、サンプル全面に対して高速にマッピングを行い光学像(可視光)では観察できないような微量な異物を検出する事が可能になりました。

粉ミルクに鉄粉を混入させたサンプルの測定事例

光学像

鉄の元素マッピング像

光学像でも見えない異物も捉えます。